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龙图腾网获悉中国科学院光电技术研究所申请的专利一种基于多特征匹配融合的扩展目标哈特曼波前探测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116612360B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-02发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310578939.5，技术领域涉及：G06V10/80；该发明授权一种基于多特征匹配融合的扩展目标哈特曼波前探测方法是由谭毅;温淋雄;周悦;王帅;杨平设计研发完成，并于2023-05-22向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于多特征匹配融合的扩展目标哈特曼波前探测方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种基于多特征匹配融合的扩展目标哈特曼波前探测方法。该方法通过特征点检测、匹配、提取，获得扩展目标图像的多个特征区域；然后分别用每个特征区域与参考图像对应特征区进行相关运算，计算该特征区相对于参考图像对应特征区的位置偏移；将所有特征区位置偏移的平均值作为波前重构所需子孔径偏移量。本发明将相关算法和图像匹配相结合，减少扩展目标哈特曼探测中波前重构残差，可有效提升扩展目标相关哈特曼波前探测的稳定性和精度。该方法流程简单且易实现，为扩展目标波前探测系统更好地应用于天文观测、目标识别、目标成像等波前探测领域提供技术支撑。

本发明授权一种基于多特征匹配融合的扩展目标哈特曼波前探测方法在权利要求书中公布了：1.一种基于多特征匹配融合的扩展目标哈特曼波前探测方法，其特征在于，实现步骤如下： 步骤1从子孔径单元数为2P-1×2P-1或2P×2P的哈特曼传感器上获取子孔径图像阵列，P,P即为哈特曼中心子孔径的坐标，P的取值根据实际传感器子孔径单元数确定，单孔径图像大小为N×N个像素，单像素灰度值用表示，α，是单子孔径图像中心像素点与参考图像I中心像素点在横纵两个方向上的偏移，中心子孔径作为参考图像I的选取位置，该子孔径对应行数和列数均为P，参考图像I的像素大小为M×M，N≥M，单像素灰度值用表示，而后进行归一化处理即单像素灰度值除以整幅图像的最大灰度值，使灰度值范围在[0,1]之间； 步骤2将参考图像和各子孔径图像分别进行关键点检测，为关键点赋予方向，进而构建关键点的描述符产生关键区域，而后进行两者的关键区域匹配以生成特征区域； 步骤3参考图像和子孔径图像特征匹配后得到的特征区域，一一对应利用归一化相关算法NormalizedCross-Correlation计算得到归一化相关系数矩阵，归一化相关系数计算公式如式14所示，其中为参考图像特征区域像素集平均灰度值，为单子孔径图像特征区域像素集平均灰度值，相关系数矩阵元素中的最大值，取每对匹配得到的相关矩阵的最大值所在位置的平均值，相关系数矩阵元素最大值所在位置与初始定标位置的差值，即为该对匹配特征区域的偏移量，求得每对匹配特征区域的偏移量的平均值，即为波前复原所需的子孔径偏移量， 14 步骤4得到相关哈特曼子孔径质心偏移量，用模式法复原波前并计算复原波前和待校正波前的复原残差。

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