电装波动株式会社桂正士获国家专利权
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龙图腾网获悉电装波动株式会社申请的专利三维测量系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116490745B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-02发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202280007666.2，技术领域涉及：G01B11/25；该发明授权三维测量系统是由桂正士设计研发完成，并于2022-01-20向国家知识产权局提交的专利申请。
本三维测量系统在说明书摘要公布了：本发明提供一种能够高精度地去除背景的三维测量系统。三维测量系统具备拍摄测量对象物的测量单元20，所述测量单元具有向测量对象物投射投影光PL的投光装置与接收反射光RL的受光装置。三维测量系统具备镜面反射部件31，所述镜面反射部件构成用于载置测量对象物的载置面，以特定的角度反射投影光。三维测量系统具备数据取得部与坐标计算部，所述数据取得部取得拍摄数据，所述坐标计算部对拍摄数据中亮度大于下限亮度的部分计算三维坐标，对亮度小于等于下限亮度的部分不计算三维坐标。受光装置配置在使得拍摄到镜面反射部件的部分的亮度小于等于下限亮度的位置。
本发明授权三维测量系统在权利要求书中公布了：1.一种进行用于测量测量对象物的三维形状的形状测量的三维测量系统，具备： 测量单元，拍摄所述测量对象物，具有投光装置与受光装置，所述投光装置向所述测量对象物投射投影光，所述受光装置接收所述投影光反射后的光即反射光； 反射部件，构成用于载置所述测量对象物的载置面，以特定的角度反射所述投影光； 数据取得部，取得使用所述测量单元拍摄的拍摄数据；以及 坐标计算部，对所述拍摄数据中亮度大于下限亮度的部分计算三维坐标，对亮度小于等于所述下限亮度的部分不计算所述三维坐标； 所述受光装置配置在使得拍摄到所述反射部件的部分的亮度小于等于所述下限亮度的位置。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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