中国科学院上海微系统与信息技术研究所;上海理微医疗科技发展有限公司张树林获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院上海微系统与信息技术研究所;上海理微医疗科技发展有限公司申请的专利超导二阶梯度线圈结构、制造方法及超导量子干涉梯度计获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116224182B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-02发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111476292.2，技术领域涉及：G01R33/035；该发明授权超导二阶梯度线圈结构、制造方法及超导量子干涉梯度计是由张树林;王永良;张国锋;张名玥;宓现强设计研发完成，并于2021-12-06向国家知识产权局提交的专利申请。
本超导二阶梯度线圈结构、制造方法及超导量子干涉梯度计在说明书摘要公布了：本发明提供了一种超导二阶梯度线圈结构、制造方法及超导量子干涉梯度计，涉及超导量子干涉器件领域。超导二阶梯度线圈结构包括二阶梯度线圈支架及六组二阶梯度线圈组，二阶梯度线圈支架包括中心支架及四个补偿支架，六组二阶梯度线圈组均包括中心点线圈及与中心点线圈连接的两个对称线圈，各组的中心点线圈均设置于中心支架处，各组的两个对称线圈分别设于相对的两个补偿支架上，六组二阶梯度线圈组分别用于响应Gzy、Gxy、Gyy、Gzx、Gyx、Gxx磁场梯度分量。本申请提供的超导二阶梯度线圈结构以中心支架处为高效探测点，可实现局部空间高效的信号探测；二阶梯度线圈支架有效降低了液面的高度，适合于局部近源目标体的探测。
本发明授权超导二阶梯度线圈结构、制造方法及超导量子干涉梯度计在权利要求书中公布了：1.一种超导二阶梯度线圈结构，其特征在于，包括二阶梯度线圈支架及六组二阶梯度线圈组，所述二阶梯度线圈支架包括中心支架及四个补偿支架，四个所述补偿支架两两相对，且相互垂直的设于所述中心支架上，六组所述二阶梯度线圈组均包括中心点线圈及与所述中心点线圈连接的两个对称线圈，各组所述二阶梯度线圈组的所述中心点线圈均设置于所述中心支架处，各组的两个所述对称线圈分别设于相对的两个所述补偿支架上，六组所述二阶梯度线圈组分别用于响应Gzy、Gxy、Gyy、Gzx、Gyx、Gxx磁场梯度分量；其中，x轴与y轴相互垂直，且分别平行于所述中心支架与其中一个所述补偿支架的连线，z轴分别垂直于所述x轴及所述y轴。
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