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龙图腾网获悉深圳市计量质量检测研究院(国家高新技术计量站丶国家数字电子产品质量监督检验中心)申请的专利用于OTA测试的装夹装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116112593B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-02发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111324369.4，技术领域涉及：H04M1/24；该发明授权用于OTA测试的装夹装置是由施昌达;林奕翔;牟芳氐;刘军鹰;林斌设计研发完成，并于2021-11-10向国家知识产权局提交的专利申请。

本用于OTA测试的装夹装置在说明书摘要公布了：本发明涉及半导体测试技术领域，具体公开了一种装夹多个待测试手机、手机调整和更换效率高且测试成本低的用于OTA测试的装夹装置，包括外壳及收容在外壳内的转动机构、抓持机构和控制单元，外壳顶部设有检测口；转动机构包括转盘及驱动转盘转动的第一驱动件，转盘圆周上设有多个底部分别具有穿接通道的装夹位；抓持机构包括夹持件、驱动夹持件升降的第二驱动件及驱动夹持件转动的第三驱动件；控制单元包括MCU芯片；在预设装夹位对准检测口后，第二驱动件在MCU芯片控制下带动夹持件穿设穿接通道并与装夹位上的手机配合，将手机经检测口推至外壳外部；手机单项检测完成后，第三驱动件在MCU芯片的控制下驱动夹持件旋转，以调整手机角度。

本发明授权用于OTA测试的装夹装置在权利要求书中公布了：1.一种用于OTA测试的装夹装置，其特征在于，包括设置在测试室内的外壳以及收容在外壳内腔的转动机构、抓持机构以及控制单元，所述外壳的顶部开设有检测口；转动机构包括转盘以及驱动转盘转动的第一驱动件，所述转盘上沿转盘圆周方向设有多个用于固定待测试手机的装夹位，每个装夹位的底部分别设有穿接通道；抓持机构包括夹持件、驱动所述夹持件升降的第二驱动件以及驱动所述夹持件转动的第三驱动件；控制单元包括分别与所述第一驱动件、第二驱动件以及第三驱动件电连接的MCU芯片； 在所述MCU芯片控制所述第一驱动件工作并使所述转盘转动至预设装夹位对准所述检测口后，所述第二驱动件在MCU芯片的控制下带动所述夹持件穿设所述穿接通道并与装夹位上的待测试手机配合，将待测试手机经由所述检测口推至所述外壳的外部；待测试手机单项检测完成后，所述第三驱动件在MCU芯片的控制下驱动所述夹持件旋转，以调整待测试手机的角度； 各所述装夹位上嵌装有与待测试手机固定配合的固定套，所述固定套的底部开设有插孔，所述夹持件上设置有与所述插孔凹凸配合的插销。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人深圳市计量质量检测研究院(国家高新技术计量站丶国家数字电子产品质量监督检验中心)，其通讯地址为：518000 广东省深圳市南山区西丽街道同发路4号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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