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长鑫存储技术有限公司陈苗苗获国家专利权

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龙图腾网获悉长鑫存储技术有限公司申请的专利一种集成电路版图检测方法、装置及存储介质获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN116070579B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-02发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202111293505.8,技术领域涉及:G06F30/398;该发明授权一种集成电路版图检测方法、装置及存储介质是由陈苗苗设计研发完成,并于2021-11-03向国家知识产权局提交的专利申请。

一种集成电路版图检测方法、装置及存储介质在说明书摘要公布了:本申请提供了一种集成电路版图检测方法、装置及存储介质;方法包括:在版图中,确定多叉指结构,其中,多叉指结构包括:至少一个上连源漏端和至少一个上连通孔,上连源漏端通过上连通孔与上层金属线电连接;计算上连源漏端的数目和上连通孔的数目;针对多叉指结构,若其上连源漏端的数目大于其上连通孔的数目,则判定该多叉指结构为不合格多叉指结构。本申请能够及时发现设计缺陷,从而提高芯片的良率。

本发明授权一种集成电路版图检测方法、装置及存储介质在权利要求书中公布了:1.一种集成电路版图检测方法,其特征在于,所述方法包括: 在版图中,确定多叉指结构;所述多叉指结构包括:至少一个上连源漏端和至少一个上连通孔;所述上连源漏端通过所述上连通孔与上层金属线电连接; 计算所述上连源漏端的数目和所述上连通孔的数目; 针对所述多叉指结构,若其上连源漏端的数目大于其上连通孔的数目,则判定该多叉指结构为不合格多叉指结构; 其中,所述计算所述上连源漏端的数目和所述上连通孔的数目,包括: 基于连接特点,确定所述多叉指结构中的上连多叉指金属线;所述连接特点包括:所述上连多叉指金属线电连接所述上连源漏端,以及,所述上连通孔位于所述上连多叉指金属线之上; 基于所述上连多叉指金属线,通过布尔运算,计算所述上连通孔的数目和所述上连源漏端的数目。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人长鑫存储技术有限公司,其通讯地址为:230000 安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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