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龙图腾网获悉中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))申请的专利集成电路的关键失效路径分析方法、装置、计算机设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114004180B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-02发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111170070.8，技术领域涉及：G06F30/327；该发明授权集成电路的关键失效路径分析方法、装置、计算机设备是由侯波;王力纬;雷登云;陈义强;黄云;路国光;孙宸;曲晨冰设计研发完成，并于2021-10-08向国家知识产权局提交的专利申请。

本集成电路的关键失效路径分析方法、装置、计算机设备在说明书摘要公布了：本申请涉及一种集成电路的分析方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：获取待测器件包含的数字集成电路对应的门级网表，所述门级网表用于描述所述数字集成电路包括的多条路径及每条路径上的门电路包括的至少一逻辑门；根据所述门级网表获取每条路径的路径信息；根据所述路径信息和预设器件退化模型计算每条所述路径的延时增量；根据所述延时增量和失效边界条件计算每条所述路径的失效时间，并将最小失效时间对应的路径作为所述数字集成电路的关键失效路径。通过本方法可基于电路负载及时序要求分析出集成电路中导致可靠性退化的关键失效路径，从而在设计早期对该路径进行加固，提高集成电路的可靠性。

本发明授权集成电路的关键失效路径分析方法、装置、计算机设备在权利要求书中公布了：1.一种集成电路的分析方法，其特征在于，所述方法包括： 获取待测数字集成电路对应的门级网表，所述门级网表用于描述所述数字集成电路包括的多条路径及每条路径上的门电路包括的至少一逻辑门，所述逻辑门包括多个器件； 根据所述门级网表获取每条路径的路径信息； 根据所述路径信息和预设器件退化模型计算每条所述路径的延时增量；其中，所述器件退化模型用于表征负偏压温度不稳定性或热载流子注入效应引起的器件阈值电压退化量； 根据所述延时增量和失效边界条件计算每条所述路径的失效时间，并将最小失效时间对应的路径作为所述数字集成电路的关键失效路径； 其中，所述路径信息至少包括路径的时序裕量、节点个数以及节点概率；所述根据所述路径信息和预设器件退化模型计算每条所述路径的延时增量包括： 获取待测器件的工作状态信息；所述器件的工作状态信息至少包括所述待测器件的工作电压、阈值电压； 根据所述节点概率计算每条所述路径上每个所述逻辑门的应力时间； 根据所述应力时间和所述器件退化模型计算所述器件阈值电压退化量； 根据所述器件阈值电压退化量和所述器件工作状态信息计算每个所述逻辑门的延时增量； 将每条所述路径上每个所述逻辑门的延时增量相加得到每条所述路径的延时增量。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))，其通讯地址为：511300 广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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