台湾积体电路制造股份有限公司苏信文获国家专利权
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龙图腾网获悉台湾积体电路制造股份有限公司申请的专利半导体装置及其制造方法与仅可一次编程的存储器装置获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN113889475B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-02发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202110805493.6,技术领域涉及:H10B20/25;该发明授权半导体装置及其制造方法与仅可一次编程的存储器装置是由苏信文;林士豪;陈瑞麟;洪连嵘;王屏薇设计研发完成,并于2021-07-16向国家知识产权局提交的专利申请。
本半导体装置及其制造方法与仅可一次编程的存储器装置在说明书摘要公布了:本公开提供一种半导体装置及形成此装置的方法。根据本公开的半导体装置包括:一栅极结构、一源漏极部件、一介电层、一栅极接触点,以及源漏极接触点。源漏极部件是邻近于栅极结构。介电层是设置于栅极结构和源漏极部件之上。栅极接触点是设置于介电层之中及栅极结构之上。源漏极接触点是设置于介电层之中和源漏极部件之上。介电层是掺杂有一掺杂剂,而掺杂剂包括锗或锡。
本发明授权半导体装置及其制造方法与仅可一次编程的存储器装置在权利要求书中公布了:1.一种半导体装置,包括: 一栅极结构; 一源漏极部件,邻近于该栅极结构; 一介电层,设置于该栅极结构和该源漏极部件之上; 一栅极接触点,设置于该介电层之中及该栅极结构之上; 一源漏极接触点,设置于该介电层之中和该源漏极部件之上;以及 一泄漏路径,介于该栅极接触点和该源漏极接触点之间,其中该泄漏路径是电性耦接该栅极接触点和该源漏极接触点; 其中该介电层是掺杂有一掺杂剂; 其中该掺杂剂包括锗或锡。
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