NANO科技(北京)有限公司黄坚垚获国家专利权
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龙图腾网获悉NANO科技(北京)有限公司申请的专利一种双面电路板探针测试结构获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223742530U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-30发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202423181595.3，技术领域涉及：G01R1/04；该实用新型一种双面电路板探针测试结构是由黄坚垚;侯广辉设计研发完成，并于2024-12-23向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种双面电路板探针测试结构在说明书摘要公布了：本实用新型公开了一种双面电路板探针测试结构，包括固定底座、活动滑块、限位罩和推杆，固定底座：具有适配双面电路板尺寸的卡槽，活动滑块：受固定底座和限位罩夹持，形成只能单方向移动的滑块，双面电路板一部分固定；限位罩：固定在固定底座上，对双面电路板限位功能；推杆：通过自带的螺纹固定在限位罩上，转动推杆推动活动滑块前进以完成其固定双面电路板或是使其退回。优点，本实用新型的双面电路板探针测试结构，小型化、低成本、高兼容性、可定制性。
本实用新型一种双面电路板探针测试结构在权利要求书中公布了：1.一种双面电路板探针测试结构，其特征在于，包括 固定底座2：具有适配双面电路板5尺寸的卡槽； 活动滑块3：受固定底座2和限位罩4夹持，形成只能单方向移动的滑块，对双面电路板5部分固定； 限位罩4：固定在固定底座2上，用于对双面电路板5进行限位； 推杆6：通过自带的螺纹固定在限位罩4上，转动推杆6可以推动活动滑块3前进以完成其固定双面电路板5或是使其退回。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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