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珠海正和微芯科技有限公司卢方明获国家专利权

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龙图腾网获悉珠海正和微芯科技有限公司申请的专利芯片量产测试方法、装置、存储介质及电子设备获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN121027807B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-30发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202511556174.0,技术领域涉及:G01R31/28;该发明授权芯片量产测试方法、装置、存储介质及电子设备是由卢方明;鲁宏涛;朱洪宇;彭刚;潘攀设计研发完成,并于2025-10-29向国家知识产权局提交的专利申请。

芯片量产测试方法、装置、存储介质及电子设备在说明书摘要公布了:本申请公开了一种芯片量产测试方法、装置、存储介质及电子设备,其中,该芯片量产测试方法包括定义测试区间,测试区间包括至少一个子测试区间;从同一批次且属于相同corner的芯片集合中选取若干芯片作为观测样本,其余芯片作为测试对象;分别在子测试区间的起点和终点读取观测样本的温度传感器的温度数字码值,得到起点码和终点码;根据起点码和终点码得到第一温度变化量;基于第一温度变化量计算参考值和偏差阈值;获取每个测试对象在子测试区间的起点码和终点码得到第二温度变化量;计算第二温度变化量与参考值的偏差,根据该偏差与偏差阈值的比较确定测试对象是否合格。本申请实施例可以提升芯片产测的效率。

本发明授权芯片量产测试方法、装置、存储介质及电子设备在权利要求书中公布了:1.一种芯片量产测试方法,其特征在于,包括: 定义测试区间,所述测试区间包括至少一个子测试区间,所述子测试区间与芯片产测过程中温度变化显著的区间对应; 从同一批次且属于相同corner的芯片集合中选取若干芯片作为观测样本,其余芯片作为测试对象; 分别在所述子测试区间的起点和终点读取所述观测样本的温度传感器的温度数字码值,得到起点码和终点码,进而得到第一温度变化量; 基于所述第一温度变化量计算参考值和偏差阈值; 分别在所述子测试区间的起点和终点读取所述测试对象的温度传感器的温度数字码值,得到起点码和终点码,进而得到第二温度变化量; 根据所述参考值、所述偏差阈值和所述第二温度变化量确定所述测试对象是否合格。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人珠海正和微芯科技有限公司,其通讯地址为:519000 广东省珠海市高新区唐家湾镇湾创路58号6层602-2、603室;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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