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龙图腾网获悉浙江力积存储科技股份有限公司申请的专利内存条SLT测试方法、装置、设备和介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120954476B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511485342.1，技术领域涉及：G11C29/56；该发明授权内存条SLT测试方法、装置、设备和介质是由张泽衍;刘石柱设计研发完成，并于2025-10-17向国家知识产权局提交的专利申请。

本内存条SLT测试方法、装置、设备和介质在说明书摘要公布了：本公开实施例提供的内存条SLT测试方法、装置、设备和介质，包括：响应于接收到目标对象选择的测试指令信号，在单元测试周期内配置突发长度参数；在突发长度参数下执行SLT测试序列，并获取内存条在测试指令信号下的测试报告，其中，SLT测试序列包括功能验证测试序列、压力稳定性测试序列、时序校准测试序列，测试报告包括测试数据、性能指标数据、错误日志数据和功耗数据；根据测试报告确定内存条在所述测试指令信号下的故障发生率。实现在DDR5标准下，SLT测试机不仅支持BL16模式的测试，也支持BL8模式以及BL16和BL8切换模式的测试，极大地扩展了DDR5内存条的测试覆盖范围和深度，从而更全面、更准确地发现潜在的稳定性问题和性能瓶颈，提高测试的有效性。

本发明授权内存条SLT测试方法、装置、设备和介质在权利要求书中公布了：1.一种内存条SLT测试方法，其特征在于，包括： 响应于接收到目标对象选择的测试指令信号，在单元测试周期内配置突发长度参数，其中，所述突发长度参数包括16字节或8字节； 在所述突发长度参数下执行SLT测试序列，并获取内存条在所述测试指令信号下的测试报告，其中，所述SLT测试序列包括功能验证测试序列、压力稳定性测试序列、时序校准测试序列，所述测试报告包括测试数据、性能指标数据、错误日志数据和功耗数据； 根据所述测试报告确定所述内存条在所述测试指令信号下的故障发生率； 其中，响应于接收到目标对象选择的测试指令信号，在单元测试周期内配置突发长度参数，包括： 响应于接收到目标对象选择的测试指令信号，根据测试指令信号与测试模式的对应关系，获取与所述测试指令信号对应的目标测试模式，其中，所述目标测试模式至少包括BL16模式或BL8模式； 根据所述目标测试模式，在单元测试周期内配置突发长度参数，其中，在所述目标测试模式为BL16模式时，配置突发长度参数为16字节，在所述目标测试模式为BL8模式时，配置突发长度参数为8字节。

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