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龙图腾网获悉中科(深圳)无线半导体有限公司申请的专利一种氧化镓器件电学性能分析方法和系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120891339B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511407030.9，技术领域涉及：G01R31/12；该发明授权一种氧化镓器件电学性能分析方法和系统是由吴义针;汪连山;麻胜恒设计研发完成，并于2025-09-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种氧化镓器件电学性能分析方法和系统在说明书摘要公布了：本发明公开了一种氧化镓器件电学性能分析方法和系统，涉及电子元器件领域，解决了氧化镓器件电学性能分析方法存在监测效果不佳的问题，包括步骤S1：对样氧化镓器件进行多场景电压性能监测，根据监测结果获取场景电压监测数据；步骤S2：根据场景电压监测数据将选取分析的氧化镓器件划分为第一类型电学器件以及第二类型电学器件，并针对第一类型电学器件进行击穿电压监测，根据监测结果获取器件类型初步分析数据；步骤S3：根据器件类型初步分析数据对选取分析的氧化镓器件进行电学性能预警。本发明能够提高氧化镓器件电学性能分析方法的全面性和针对性。

本发明授权一种氧化镓器件电学性能分析方法和系统在权利要求书中公布了：1.一种氧化镓器件电学性能分析方法，其特征在于，包括： 步骤S1：对样本氧化镓器件进行多场景电压性能监测，根据监测结果获取场景电压监测数据；具体步骤如下： 步骤S11：对电力设备所存在的多个氧化镓器件进行获取，并在所获取的多个氧化镓器件任意选取一个作为样本氧化镓器件； 步骤S12：在对选取的样本氧化镓器件进行电压性能监测的过程中，设置若干个不同环境测试温度，并在所获取的多个环境测试温度中选取一个样本环境测试温度； 步骤S13：对处于样本环境测试温度的样本氧化镓器件进行电压波形分析，根据分析结果获取样本环境测试温度所对应的电压波形时间偏差度；具体步骤如下： 步骤S131：在样本氧化镓器件在样本环境测试温度处于工作状态的历史时段内，选取一个电压历史监测时段； 步骤S132：获取样本氧化镓器件在电压历史监测时段的方波电压进行实时获取，得到多个不同历史时刻的方波电压数值，对电压历史监测时段所对应的时间范围进行获取，得到电压时段范围，将电压时段范围作为横坐标，方波电压数值作为纵坐标来对不同历史时刻的方波电压数值进行坐标点创建，并对多个不同电压坐标点进行连线，得到时段方波电压变化曲线； 步骤S133：对时段方波电压变化曲线进行曲线波形上升性分析，根据分析结果得到波形上升时间偏差度； 步骤S134：对时段方波电压变化曲线进行曲线波形下降性分析，根据分析结果得到波形下降时间偏差度； 步骤S135：将波形上升时间偏差度以及波形下降时间偏差度进行数值大小比对，若波形上升时间偏差度大于等于波形下降时间偏差度，则将波形上升时间偏差度标记为电压波形时间偏差度，若波形上升时间偏差度小于波形下降时间偏差度，则将波形下降时间偏差度标记为电压波形时间偏差度； 步骤S14：分别获取每一个环境测试温度所对应的电压波形时间偏差度，得到场景电压监测数据； 步骤S2：根据场景电压监测数据将选取分析的氧化镓器件划分为第一类型电学器件以及第二类型电学器件，并针对第一类型电学器件进行击穿电压监测，根据监测结果获取器件类型初步分析数据； 步骤S3：根据器件类型初步分析数据对选取分析的氧化镓器件进行电学性能预警。

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