中科(深圳)无线半导体有限公司赵柏聿获国家专利权
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龙图腾网获悉中科(深圳)无线半导体有限公司申请的专利一种基于图像处理的氧化镓晶体管缺陷检测方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120876460B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511366724.2，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种基于图像处理的氧化镓晶体管缺陷检测方法及系统是由赵柏聿;吴义针;高放;麻胜恒设计研发完成，并于2025-09-24向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种基于图像处理的氧化镓晶体管缺陷检测方法及系统在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于图像处理的氧化镓晶体管缺陷检测方法及系统，涉及图像处理技术领域，方法包括：获取氧化镓晶体管的缺陷图像；对缺陷图像进行图像处理；对图像处理后的缺陷图像进行特征提取；计算缺陷图像特征的模糊隶属度；以缺陷图像特征的分布中心为原点，以缺陷图像特征的分布范围为半径，构建超球体；构建有关超球体的目标函数和约束条件；在约束条件的约束下，以最小化目标函数为目标，确定最优超球体参数；根据最优超球体参数，构建决策函数；获取待检测氧化镓晶体管的图像特征；通过决策函数，对氧化镓晶体管进行缺陷检测，得到缺陷检测结果；本发明能够在复杂和噪声较多的环境下稳定工作，确保缺陷检测的稳定性和可靠性。
本发明授权一种基于图像处理的氧化镓晶体管缺陷检测方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种基于图像处理的氧化镓晶体管缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤： S1：获取氧化镓晶体管的缺陷图像； S2：对所述缺陷图像依次进行扩散处理、图像增强处理和边缘检测处理； S3：对图像处理后的缺陷图像进行特征提取，确定缺陷图像特征； S4：计算所述缺陷图像特征的模糊隶属度； S5：以所述缺陷图像特征的分布中心为原点，以所述缺陷图像特征的分布范围为半径，构建超球体； S6：基于所述模糊隶属度，构建有关所述超球体的目标函数和约束条件； S7：在所述约束条件的约束下，以最小化所述目标函数为目标，采用优化算法，确定最优超球体参数； S8：根据所述最优超球体参数，构建决策函数； S9：获取待检测氧化镓晶体管的图像特征； S10：根据所述缺陷图像特征，通过所述决策函数，对所述待检测氧化镓晶体管进行缺陷检测，得到缺陷检测结果。
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