深圳鸿芯微纳技术有限公司;上海鸿芯科纳科技有限公司张小珏获国家专利权
买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！
龙图腾网获悉深圳鸿芯微纳技术有限公司;上海鸿芯科纳科技有限公司申请的专利芯片绕线方案测试的版图生成方法、装置、设备及介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120831563B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511332927.X，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权芯片绕线方案测试的版图生成方法、装置、设备及介质是由张小珏;周子航;张林;李乐逊设计研发完成，并于2025-09-18向国家知识产权局提交的专利申请。
本芯片绕线方案测试的版图生成方法、装置、设备及介质在说明书摘要公布了：本申请提供了一种芯片绕线方案测试的版图生成方法、装置、设备及介质，包括：获取芯片设计过程中的绕线区域、待测试绕线方案的总数量以及测试区域宽度；若绕线区域的数量为一个，确定出绕线区域的中心折线，基于测试区域所容纳的单组的待测试绕线方案的数量以及测试区域宽度在初始测试版图上对中心折线进行区域扩展处理，生成初始测试区域；基于总数量在初始测试版图上对初始测试区域进行复制处理以及平移处理生成多个相同的初始测试区域，基于初始测试版图上的多个相同的初始测试区域整合出目标测试版图。通过中心线扩展和区域平移复制的方式，使得多个绕线方案可以在同一个测试版图中同时测试，从而显著提升了测试效率与资源利用率。
本发明授权芯片绕线方案测试的版图生成方法、装置、设备及介质在权利要求书中公布了：1.一种芯片绕线方案测试的版图生成方法，其特征在于，所述版图生成方法包括： 获取芯片设计过程中的绕线区域、待测试绕线方案的总数量以及待测试绕线方案所对应的测试区域宽度； 若所述绕线区域的数量为一个，确定出所述绕线区域的中心折线，基于测试区域所容纳的单组的待测试绕线方案的数量以及所述测试区域宽度在初始测试版图上对所述中心折线进行区域扩展处理，生成初始测试区域； 基于所述总数量在所述初始测试版图上对所述初始测试区域进行复制处理以及平移处理生成多个相同的所述初始测试区域，基于所述初始测试版图上的多个相同的所述初始测试区域整合出目标测试版图，以使在所述目标测试版图上对每个所述待测试绕线方案同时进行绕线测试。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人深圳鸿芯微纳技术有限公司;上海鸿芯科纳科技有限公司，其通讯地址为：518000 广东省深圳市南山区粤海街道高新区社区沙河西路1801号国实大厦16C；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
以上内容由龙图腾AI智能生成。
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
开放平台
担保交易
惠及多方
会员特惠
专属平台
适合多方
数据共享
功能齐全
皖公网安备 34010402703815号
请提出您的宝贵建议，有机会获取IP积分或其他奖励