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龙图腾网获悉中国地质大学(武汉)申请的专利一种基于双光路干涉的非线性折射率测量系统、方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120352383B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510550734.5，技术领域涉及：G01N21/45；该发明授权一种基于双光路干涉的非线性折射率测量系统、方法是由李垒;张保成;陈玲设计研发完成，并于2025-04-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于双光路干涉的非线性折射率测量系统、方法在说明书摘要公布了：本发明提出一种基于双光路干涉的非线性折射率测量系统、方法，涉及非线性光学测量技术领域，系统包括：第一激光发射单元、第一分光装置、第二分光装置、干涉装置、待测样品、第二激光发射单元和测量单元；第一激光发射单元产生高斯光束；第一分光装置将高斯光束分束为相互平行的样品光束和参考光束；第二分光装置将相互平行的样品光束和参考光束分束为两路；第一样品光束和参考光束入射至待测样品；第二激光发射单元产生泵浦光束，将泵浦光束沿第一样品光束的光路入射至待测样品；干涉装置产生两个样品光束之间的干涉，以及两个参考光束之间的干涉；测量单元采集干涉图像，并进行分析，计算待测样品的非线性折射率。本发明的系统不易受环境影响。

本发明授权一种基于双光路干涉的非线性折射率测量系统、方法在权利要求书中公布了：1.一种基于双光路干涉的非线性折射率测量系统，其特征在于，所述系统包括：第一激光发射单元、第一分光装置、第二分光装置、干涉装置、待测样品、第二激光发射单元和测量单元； 所述第一激光发射单元，用于产生高斯光束，并将高斯光束入射至所述第一分光装置； 所述第一分光装置，用于将所述高斯光束分束为相互平行的样品光束和参考光束； 所述第二分光装置，用于将相互平行的样品光束和参考光束分束为相互平行的第一样品光束和第一参考光束、相互平行的第二样品光束和第二参考光束；第一样品光束和第一参考光束入射至待测样品，得到目标样品光束和目标参考光束； 所述第二激光发射单元，用于产生泵浦光束，并将泵浦光束沿第一样品光束的光路入射至待测样品； 所述干涉装置，用于产生目标样品光束、第二样品光束之间的干涉，以及目标参考光束、第二参考光束之间的干涉； 所述测量单元，用于采集干涉图像，并对干涉图像进行分析，计算待测样品的非线性折射率。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人中国地质大学(武汉)，其通讯地址为：430000 湖北省武汉市洪山区鲁磨路388号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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