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龙图腾网获悉北京航空航天大学申请的专利基于STM32芯片的微秒级多通道分离同步性测试装置及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119986325B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510198267.4，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权基于STM32芯片的微秒级多通道分离同步性测试装置及方法是由闫晓军;周仕豪;刘志伟;黄大伟;冷佳明设计研发完成，并于2025-02-22向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于STM32芯片的微秒级多通道分离同步性测试装置及方法在说明书摘要公布了：本发明属于航空航天技术领域，尤其涉及一种基于STM32芯片的微秒级多通道分离同步性测试装置及方法，包括：STM32芯片，多个基于STM32芯片的分离监测通道，开关模块，通电控制接口，以及，通信芯片与通信接口，本发明所述的基于STM32芯片的微秒级多通道分离同步性测试装置及方法提高了测试装置的自动化程度和时间监测精度，能够实现实验的闭环控制，并且能够即时显示实验结果，以低成本的方式，实现了微秒级多通道分离同步性测试。

本发明授权基于STM32芯片的微秒级多通道分离同步性测试装置及方法在权利要求书中公布了：1.一种基于STM32芯片的微秒级多通道分离同步性测试装置，其特征在于，包括： STM32芯片8； 多个基于STM32芯片8的分离监测通道3，所述分离监测通道3包括依次串联的充电电源VDD、电阻R和电容器C，所述电容器C的另一端接地，在所述电阻R和电容器C之间设置GPIO接口，所述GPIO接口接入所述STM32芯片8的外部中断引脚，连接分离体中分离监测点的其中一部分接入所述电阻R和电容器C之间，另一部分接入电容器C和电容器C的接地点之间，并确保连接分离体中分离监测点的两部分能够导通，在分离过程中，测试装置能够根据电容器C的电压变化获取连接分离体中分离监测点的两部分从通电到分离的总用时； 开关模块6，其与待测连接分离体的电源输入接口连接； 通电控制接口5，其能够控制开关模块6开启或关闭电路； 以及，通信芯片7与通信接口1，所述STM32芯片8、通信芯片7和通信接口1依次连接，所述通信接口1能够与电脑主机通过USB接口进行串口通信，以接收电脑主机的指令或发送信息到电脑主机； 所述STM32芯片8还与所述通电控制接口5和开关模块6连接，所述STM32芯片8能够控制测试过程中连接分离体中分离监测点的通电状态、以及获取通电状态参数。

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