华中科技大学刘欢获国家专利权
买专利卖专利找龙图腾,真高效! 查专利查商标用IPTOP,全免费!专利年费监控用IP管家,真方便!
龙图腾网获悉华中科技大学申请的专利基于薄膜场效应晶体管的气体传感器件及其制备方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119804596B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-30发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202411985418.2,技术领域涉及:G01N27/414;该发明授权基于薄膜场效应晶体管的气体传感器件及其制备方法是由刘欢;李华曜;唐艳婷;邢颖颖;毛镕煜设计研发完成,并于2024-12-31向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于薄膜场效应晶体管的气体传感器件及其制备方法在说明书摘要公布了:本申请属于气体传感器技术领域,具体公开了一种基于薄膜场效应晶体管的气体传感器件及其制备方法。所述气体传感器件在衬底上依次垂直层叠有栅极绝缘层、沟道有源层以及源漏层,所述源漏层包括在水平方向的不同位置设置、且相互绝缘的源电极和漏电极,所述源电极作为所述气体传感器件的输出端;在源漏层之上还依次设置有:气敏薄膜,位于所述源电极和漏电极在水平方向的投影之间的部位,且与源电极和漏电极均通过介质隔离;顶电极,作为所述气体传感器件的输入端,与漏电极在水平方向的投影重合或部分重合,且与气敏薄膜、源电极和漏电极均通过介质隔离。
本发明授权基于薄膜场效应晶体管的气体传感器件及其制备方法在权利要求书中公布了:1.一种基于薄膜场效应晶体管的气体传感器件,包括依次在衬底上层叠设置的栅极绝缘层、沟道有源层以及源漏层,所述源漏层包括在水平方向的不同位置设置、且相互绝缘的源电极和漏电极,所述源电极作为所述气体传感器件的输出端,其特征在于,所述沟道有源层采用金属氧化物半导体材料或者低维半导体材料; 在源漏层之上还依次设置有: 气敏薄膜,位于所述源电极和漏电极在水平方向的投影之间的部位,且与源电极和漏电极均通过介质隔离; 顶电极,作为所述气体传感器件的输入端,与漏电极在水平方向的投影重合或部分重合,且与气敏薄膜、源电极和漏电极均通过介质隔离。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人华中科技大学,其通讯地址为:430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
以上内容由龙图腾AI智能生成。
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

皖公网安备 34010402703815号
请提出您的宝贵建议,有机会获取IP积分或其他奖励