北京化工大学;任峙林尹亮获国家专利权
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龙图腾网获悉北京化工大学;任峙林申请的专利一种使用近红外光对厚散射介质内部目标进行单次拍摄成像的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119715455B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510027990.6，技术领域涉及：G01N21/359；该发明授权一种使用近红外光对厚散射介质内部目标进行单次拍摄成像的方法是由尹亮;任峙林;柯子翼;丁迎春;胡明龙;周俊杰设计研发完成，并于2025-01-08向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种使用近红外光对厚散射介质内部目标进行单次拍摄成像的方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于近红外光的对散射介质内部目标单次拍摄成像的方法。本发明利用散斑的统计特性以及散斑的协方差的开根号等于目标的自相关的振幅的结论实现了基于近红外光的对厚散射介质内部目标单次拍摄成像，同时最深可以实现对20个平均自由程的鲜切鸡胸肉组织内部目标成像，并且最大成像分辨率为150μm。本发明只需要拍摄一张对应目标的散斑就可以将图像清晰的重建，这极大地减少了在散射成像方面的计算量；以近红外光作为光源提高了成像深度，最大可达20个平均自由程，并且也在生物医学等领域的应用提供了新的思路。
本发明授权一种使用近红外光对厚散射介质内部目标进行单次拍摄成像的方法在权利要求书中公布了：1.一种基于近红外光的对厚散射介质内部目标进行单次拍摄成像的方法，其特征在于，包括实现单次拍摄图像重建的理论模型和实现单次拍摄成像光路，所述理论模型用于解释单次拍摄实现厚散射介质内部目标图像实现恢复重建，所述成像光路用于实现单次拍摄对散射介质内部目标成像； 所述理论模型包括基于散斑统计特性的协方差理论在理论模型中的应用，通过散斑统计特性和协方差理论推导出散斑的协方差的开根号等于目标自相关的振幅，然后通过相位检索算法对图像进行重建。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人北京化工大学;任峙林，其通讯地址为：100029 北京市朝阳区北三环东路15号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
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