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龙图腾网获悉赛诺威盛科技(北京)股份有限公司申请的专利一种测试CT探测器位置的方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118670312B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410739628.7，技术领域涉及：G01B15/00；该发明授权一种测试CT探测器位置的方法及装置是由王伟设计研发完成，并于2024-06-07向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种测试CT探测器位置的方法及装置在说明书摘要公布了：本申请属于CT探测器技术领域，尤其涉及一种测试CT探测器位置的方法及装置。一种测试CT探测器位置的方法包括根据X射线装置启动指令，得到X射线；根据采集卡启动指令，得到所述X射线穿过狭缝，射在探测器上，形成的采集数据；根据所述采集数据，得到所述探测器的光响应数据；根据所述光响应数据，得到狭缝投影的响应曲线；根据所述狭缝投影的响应曲线，得到所述探测器的偏移量；根据所述偏移量，调整所述探测器的位置。通过上述方法，可以根据测试数据计算出每一个探测器与基准检测位对位关系，进而推算出每一个探测器的实际偏移量，从而指导对探测器的位置调节，有利于提高CT设备的患者图像质量。

本发明授权一种测试CT探测器位置的方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种测试CT探测器位置的方法，其特征在于，所述方法包括： 根据X射线装置启动指令，得到X射线； 根据采集卡启动指令，得到所述X射线穿过狭缝，射在探测器上，形成的采集数据； 根据所述采集数据，得到所述探测器的光响应数据； 根据所述光响应数据，得到狭缝投影的响应曲线； 根据所述狭缝投影的响应曲线，得到所述探测器的偏移量； 根据所述偏移量，调整所述探测器的位置，其中， 所述根据所述采集数据，得到探测器的光响应数据的步骤，还包括： 根据所述采集数据，得到所述光响应数据；其中， 所述光响应数据表示数据Ax，y，t为n×m探测器的光响应数据； 每组所述光响应数据对应每个时刻t，共T个时刻； x为在所述探测器X方向的第x个通道，n为所述探测器X方向的通道总数，y代表在所述探测器Y方向的第y排，m为所述探测器Y方向的通道总数； 所述根据所述光响应数据，得到狭缝投影的响应曲线的步骤，包括： 根据所述光响应数据，在时间T方向，计算光响应均值，得到向量B，其中，向量Bx，y计算公式为： 利用样条插值法，对所述探测器每个Y向上的数据Ax进行多次样条插值运算，得到每个所述探测器的每个Y向插值数组A’x’； 以x’为横坐标，A’x’为纵坐标，绘制曲线，得到A’x’数据曲线； 根据A’x’数据曲线，得到A’x’数据曲线的半高宽，其中，所述半高宽中心对应横坐标值记为xFWHM； 根据所述探测器Y向数据的对应xFWHM，得到探测器的数组xFWHMy； 以y为横坐标，利用最小二乘法，对所述数组xFWHMy进行直线拟合，得到狭缝投影的响应曲线。

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