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龙图腾网获悉赛诺威盛科技(北京)股份有限公司申请的专利一种针对CT探测器封装性能的测试方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118655610B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410677890.3，技术领域涉及：G01T1/20；该发明授权一种针对CT探测器封装性能的测试方法及装置是由王伟设计研发完成，并于2024-05-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种针对CT探测器封装性能的测试方法及装置在说明书摘要公布了：本发明公开了一种针对CT探测器封装性能的测试方法及装置，该方法应用于第一设备；具体包括：针对灌注完光学胶后CT探测器上任一目标像素点：获取目标像素点在不同采集时刻对应的第一光响应数据，生成第一光响应数据集；对第一光响应数据集进行去噪处理，生成目标像素点处光学胶对应的第二光响应数据集；基于第二光响应数据集确定目标像素点处光学胶的封装性能；基于灌注完光学胶后CT探测器中每个目标像素点处光学胶的封装性能确定CT探测器闪烁体和光电二极管之间的封装性能。由此，能够有效检测闪烁体和光电二极管间是否存在气泡及间隙，解决了现有技术中由于封装过程缺乏检测管控，导致CT探测器封装不良而出现的材料损耗问题。

本发明授权一种针对CT探测器封装性能的测试方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种针对CT探测器封装性能的测试方法，其特征在于，所述CT探测器包括CT探测器闪烁体和光电二极管；所述CT探测器上分布有若干个像素点；应用于用于探测器封装性能的测试装置中的采集电路板； 所述用于探测器封装性能的测试装置，包括：壳体，所述壳体用于屏蔽外界杂散光；测试平台，所述测试平台设置在所述壳体内部；所述测试平台包括定位部、平板光源，以及主控部；所述定位部，用于固定探测器样品；所述平板光源，安装在所述定位部上，用于为所述定位部上的探测器样品提供平行光束；所述主控部，分别与所述平板光源和所述探测器样品电连接； 所述主控部，分别与所述平板光源和所述探测器样品电连接； 所述主控部包括：控制电路板、采集电路板以及供电电源；所述供电电源用于为所述探测器样品和所述平板光源进行供电；所述控制电路板分别与所述采集电路板和所述平板光源进行电连接；所述采集电路板与所述探测器样品电连接； 所述控制电路板用于基于目标对象触发的目标操作，控制平板光源开启；并在确定平板光源开启预设时间后控制所述采集电路板开始向所述探测器样品采集光响应数据，且在达到预设采集时间后控制采集电路板结束采集；所述采集电路板用于对采集的光响应数据进行数据处理，输出CT探测器闪烁体和光电二极管之间的封装性能；所述测试平台还包括：调平结构；所述调平结构设置在所述定位部，用于调节所述探测器样品，使得所述探测器样品和所述平板光源保持平行； 针对灌注完光学胶后CT探测器上任一目标像素点：获取所述目标像素点在不同采集时刻对应的第一光响应数据，生成第一光响应数据集；对所述第一光响应数据集进行去噪处理，生成所述目标像素点处光学胶对应的第二光响应数据集；基于所述第二光响应数据集确定所述目标像素点处光学胶的封装性能； 基于所述灌注完光学胶后CT探测器中每个所述目标像素点处光学胶的封装性能确定CT探测器闪烁体和光电二极管之间的封装性能； 所述对所述第一光响应数据集进行去噪处理，生成所述目标像素点处光学胶对应的第二光响应数据集；包括： 获取预固化UV胶后CT探测器上所述目标像素点在不同采集时刻对应的第三光响应数据，生成第三光响应数据集； 利用所述第三光响应数据集对所述第一光响应数据集进行校正，生成所述目标像素点处光学胶对应的第二光响应数据集； 所述利用所述第三光响应数据集对所述第一光响应数据集进行校正，生成所述目标像素点处光学胶对应的第二光响应数据集；包括： 对所述第三光响应数据集进行归一化处理，生成归一化后第三光响应数据集； 对所述第一光响应数据集进行归一化处理，生成归一化后第一光响应数据集； 利用所述归一化后第三光响应数据集对所述归一化后第一光响应数据集进行校正处理，生成所述目标像素点处光学胶对应的第二光响应数据集； 所述对所述第三光响应数据集进行归一化处理，生成归一化后第三光响应数据集；包括：基于所述第三光响应数据集中不同采集时刻对应的第三光响应数据，确定沿着采集时刻的时间方向所对应的第三光响应均值向量；根据每个目标像素点对应的第三光响应均值向量，确定预固化UV胶后CT探测器所对应的第三光响应总向量；利用所述第三光响应总向量对所述第三光响应均值向量进行校正处理，生成归一化后第三光响应数据集； 所述对所述第一光响应数据集进行归一化处理，生成归一化后第一光响应数据集；包括：基于所述第一光响应数据集中不同采集时刻对应的第一光响应数据，确定沿着采集时刻的时间方向所对应的第一光响应均值向量；基于每个目标像素点对应的第一光响应均值向量，确定灌注完光学胶后CT探测器所对应的第一光响应总向量；利用所述第一光响应总向量对所述第一光响应均值向量进行校正处理，生成归一化后第一光响应数据集。

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