华中科技大学许剑锋获国家专利权
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龙图腾网获悉华中科技大学申请的专利一种基于散射矩阵的表面质量识别模型建立方法及其应用获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN117218099B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202311254040.4，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种基于散射矩阵的表面质量识别模型建立方法及其应用是由许剑锋;白龙;孙浩;谭伟;阮奕潇设计研发完成，并于2023-09-26向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种基于散射矩阵的表面质量识别模型建立方法及其应用在说明书摘要公布了：本发明提供了一种基于散射矩阵的表面质量识别模型建立方法及其应用，属于光学检测领域，该建立方法具体为：对若干标样的表面质量进行分类并获取各个标样对应的散射光强和电场强度；分别对各个标样的散射光强进行归一化处理以获得其对应的散射矩阵；根据散射光强与电场强度的关系对各个散射矩阵进行可视化处理，以此获得若干更新散射矩阵；根据标样的表面质量类别对各个更新散射矩阵进行打标以此获得数据集；利用数据集对深度学习模型进行训练以获得表面质量识别模型。本发明能够获得多入射角及散射角的空间分布结果，并避免散射光强输入数据与输出数据的数量级差别较大造成预测误差过大的问题，最终获得准确率较高的表面质量识别模型。
本发明授权一种基于散射矩阵的表面质量识别模型建立方法及其应用在权利要求书中公布了：1.一种基于散射矩阵的表面质量识别模型建立方法，其特征在于，该建立方法包括如下步骤： S1对若干标样的表面质量进行分类并获取各个标样对应的散射光强和电场强度； S2分别对各个所述标样的散射光强进行归一化处理以获得其对应的散射矩阵，利用下式进行进行归一化处理： 式中，为入射角i、散射角j对应的未归一化散射光强，为散射光强的均值，为散射光强的方差，建立的散射矩阵为： ； S3根据所述散射光强与电场强度的关系对各个所述散射矩阵进行可视化处理，以此获得若干更新散射矩阵，利用下式计算并替代以进行可视化处理： 式中，为可视化处理后的，为入射角i、散射角j对应的电场强度，为电场强度的均值，为电场强度的方差； S4根据标样的表面质量类别对各个所述更新散射矩阵进行打标以此获得数据集； S5利用所述数据集对深度学习模型进行训练以获得表面质量识别模型。
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