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龙图腾网获悉松山湖材料实验室;养生堂有限公司申请的专利薄膜应力的测量方法、装置、计算机设备和可读介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116698584B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310538545.7，技术领域涉及：G01N3/08；该发明授权薄膜应力的测量方法、装置、计算机设备和可读介质是由郑跃滨;刘科海;陈镔;刘开辉;王恩哥设计研发完成，并于2023-05-12向国家知识产权局提交的专利申请。

本薄膜应力的测量方法、装置、计算机设备和可读介质在说明书摘要公布了：本申请涉及一种薄膜应力的测试方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：获取待测薄膜响应于入射声波的频响曲线；根据所述入射声波、所述待测薄膜的尺寸参数和测试环境参数建立等效集总模型；根据所述频响曲线和所述等效集总模型的预设频响曲线确定所述待测薄膜的应力。通过该方法可简化测量薄膜应力的测量步骤，同时，在测试过程中，考虑了测试环境参数的影响，可以提高薄膜应力的测试精准度。

本发明授权薄膜应力的测量方法、装置、计算机设备和可读介质在权利要求书中公布了：1.一种薄膜应力的测量方法，其特征在于，所述方法包括： 获取待测薄膜响应于入射声波的频响曲线； 获取预设模型；其中，所述预设模型包括第一电压源、第二电压源、第一电阻、第二电阻、第三电阻、第一电感和第二电感，其中，所述第一电压源和所述第一电阻并联，第一电阻的第一端经所述第一电感与所述第三电阻的第一端连接，所述第二电压源和所述第二电阻并联，第二电阻的第一端经所述第二电感与所述第三电阻的第二端连接，第一电阻的第二端与所述第二电阻的第二端连接； 根据所述入射声波、所述待测薄膜的尺寸参数和测试环境参数、以及所述预设模型建立等效集总模型；所述待测薄膜的尺寸参数包括：所述待测薄膜的薄膜半径，所述测试环境参数包括：用于固定所述待测薄膜的外框的横截面尺寸，所述待测薄膜响应于所述入射声波的声场参数；其中，所述声场参数包括入射声压、薄膜等效机械阻抗、空气辐射阻抗、外框与膜间空气声阻和后方绕射声压；具体来说， 根据所述薄膜等效机械阻抗确定所述第三电阻的阻抗； 根据所述空气辐射阻抗确定所述第一电阻的阻抗、所述第二电阻的阻抗； 根据所述外框和待测薄膜空气声阻确定所述第一电感的阻抗、所述第二电感的阻抗； 根据所述入射声压和所述后方绕射声压确定所述第一电压源、所述第二电压源的电压； 根据所述第一电压源和第二电压源的电压、所述第一电阻的阻抗、所述第二电阻的阻抗、所述第三电阻的阻抗、所述第一电感的阻抗、所述第二电感的阻抗确定所述等效集总模型； 根据所述频响曲线和所述等效集总模型的预设频响曲线确定所述待测薄膜的应力。

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