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北京时代全芯存储技术股份有限公司;江苏时代芯存半导体有限公司;塞席尔商使命科技控股有限公司廖昱程获国家专利权

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龙图腾网获悉北京时代全芯存储技术股份有限公司;江苏时代芯存半导体有限公司;塞席尔商使命科技控股有限公司申请的专利测试结构以及测试方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115485833B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-30发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202080099894.8,技术领域涉及:H01L23/544;该发明授权测试结构以及测试方法是由廖昱程;邱青松;张明丰设计研发完成,并于2020-11-23向国家知识产权局提交的专利申请。

测试结构以及测试方法在说明书摘要公布了:一种测试结构以及测试方法。测试结构,包括:一第一电阻21;以及与第一电阻21电学串联的至少一第二电阻22,第二电阻22的数目为M×N个,M和N为正整数,所有的第二电阻22彼此电学并联。通过设置不同数目的电阻来获得电阻差值,从而精确计算出相变材料和加热器的电阻值。

本发明授权测试结构以及测试方法在权利要求书中公布了:1.一种测试结构,其特征在于,包括: 第一组结构,所述第一组结构包括: 一第一电阻;以及 与第一电阻电学串联的至少一第二电阻,所述第二电阻的数目为M1×N1个,所述M1和N1为正整数,所有的所述第二电阻彼此电学并联; 第二组结构,所述第二组结构包括: 所述第一电阻;以及 与所述第一电阻电学串联的至少一第二电阻,所述第二电阻的数目为M2×N2个,所述M2和N2为正整数,所有的所述第二电阻彼此电学并联,且所述M2和N2至少有一者与所述M1和N1不同数值。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人北京时代全芯存储技术股份有限公司;江苏时代芯存半导体有限公司;塞席尔商使命科技控股有限公司,其通讯地址为:100094 北京市海淀区丰豪东路9号院2号楼8层4单元802;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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