株式会社日立高新技术川口洋平获国家专利权
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龙图腾网获悉株式会社日立高新技术申请的专利碱基序列确定装置、毛细管阵列电泳装置和方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN108473925B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-30发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:201680079412.6,技术领域涉及:C12Q1/68;该发明授权碱基序列确定装置、毛细管阵列电泳装置和方法是由川口洋平;安田知弘;G·凯尔吉迪斯;横井崇秀设计研发完成,并于2016-01-28向国家知识产权局提交的专利申请。
本碱基序列确定装置、毛细管阵列电泳装置和方法在说明书摘要公布了:本发明的碱基序列确定装置包括:1迁移率校正部,其输出对与各碱基对应的波谱的时序信号进行迁移率校正后的迁移率校正信号;2反卷积部,其执行以下处理,即:对点扩散函数的多个参数候选分别计算上述迁移率校正信号的反卷积后信号的处理、对计算出的反卷积后信号计算峰间隔的离散的处理、使用计算出的离散来确定上述点扩散函数的参数的处理和将与具有所确定的参数的上述点扩散函数对应的上述反卷积信号作为更新反卷积信号输出的处理;3峰提取部,其从上述更新反卷积后信号提取峰波形,并将更新峰提取后信号输出;和4输入上述更新峰提取后信号,确定碱基序列的序列确定部。
本发明授权碱基序列确定装置、毛细管阵列电泳装置和方法在权利要求书中公布了:1.一种碱基序列确定装置,其特征在于,包括: 信号输入部,其输入由毛细管电泳型测序仪检测出的从与各碱基对应的色素发出的波谱的时序信号; 迁移率校正部,其对与各碱基对应的所述波谱的时序信号计算各碱基的相邻的峰的平均间隔,并计算各碱基的所述平均间隔与各碱基的所述平均间隔的平均值之差,基于该差来使与各碱基对应的通道向时间轴上的后方移动,以移动后的信号覆盖迁移率校正中途信号,在各碱基的所述差比预先设定的阈值小的情况下,将覆盖后的迁移率校正中途信号作为迁移率校正后的迁移率校正信号进行输出; 反卷积部,其执行以下处理,即: 将点扩散函数限定于高斯函数,将所述点扩散函数中未知的参数仅限定于标准偏差; 将离散的有限个所述标准偏差作为参数候选来列举; 对所述点扩散函数的多个参数候选分别执行以下处理,即:计算所述迁移率校正信号的反卷积后信号的处理;和对于对所述多个参数候选计算出的各所述反卷积后信号计算卷积误差和峰间隔的离散,按照c=eσ+α×vσ来计算评价值,其中,c是评价值,eσ是所述卷积误差,vσ是所述离散的大小,α是峰间隔的离散的容许度; 通过在所有标准偏差的参数候选中搜索所述评价值最小的候选,来确定所述点扩散函数的参数的处理;和 将与具有所确定的参数的所述点扩散函数对应的所述反卷积后信号作为更新反卷积后信号输出的处理; 峰提取部,其从所述更新反卷积后信号提取峰波形,输出更新峰提取后信号;和 输入所述更新峰提取后信号,确定碱基序列的序列确定部, 所述碱基序列确定装置还具有输入部,通过受理对所述输入部的界面画面的输入来得到所述容许度, 所述峰间隔的离散是指峰间隔的标准偏差、与平均值的偏差的最大值或者绝对中位差。
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