台湾积体电路制造股份有限公司庄嵋箴获国家专利权
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龙图腾网获悉台湾积体电路制造股份有限公司申请的专利用于对通孔劣化进行侦测的电路及测试系统获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223727949U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-26发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202422575064.6，技术领域涉及：G01R31/26；该实用新型用于对通孔劣化进行侦测的电路及测试系统是由庄嵋箴;李胜高;哈姆札阿尔马赫拉马设计研发完成，并于2024-10-24向国家知识产权局提交的专利申请。
本用于对通孔劣化进行侦测的电路及测试系统在说明书摘要公布了：提供用于对通孔劣化进行侦测的电路及测试系统。用于对通孔的劣化进行侦测的电路包括：电流源，被配置成向受测试装置的多个通孔递送恒定的电流供应。所述电路更包括：多个开关，被配置成将电流源连接至所述多个通孔；以及模拟‑数字转换器ADC，被配置成经由第一配线借由所述多个开关而连接至所述多个通孔，第一配线连接至ADC的第一输入。所述多个开关被配置成一次将所述多个通孔中的一个通孔连接至电流源及第一配线；且ADC被配置成输出表示连接至ADC及电流源的通孔的电阻的信号。
本实用新型用于对通孔劣化进行侦测的电路及测试系统在权利要求书中公布了：1.一种用于对通孔劣化进行侦测的电路，其特征在于，包括： 电流源，被配置成向受测试装置的多个通孔递送恒定的电流供应； 多个开关，被配置成将所述电流源连接至所述多个通孔；以及 模拟-数字转换器，被配置成经由第一配线借由所述多个开关而连接至所述多个通孔，其中所述第一配线连接至所述模拟-数字转换器的第一输入， 其中所述多个开关被配置成一次将所述多个通孔中的一个通孔连接至所述电流源及所述第一配线；且 其中所述模拟-数字转换器被配置成输出表示连接至所述模拟-数字转换器及所述电流源的通孔的电阻的信号。
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