联测优特半导体(东莞)有限公司胡志铭获国家专利权
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龙图腾网获悉联测优特半导体(东莞)有限公司申请的专利一种芯片的性能检测设备获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223727852U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-26发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202422644828.2，技术领域涉及：G01R1/04；该实用新型一种芯片的性能检测设备是由胡志铭;林永强;骆国泉;周利;李常源设计研发完成，并于2024-10-30向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种芯片的性能检测设备在说明书摘要公布了：本实用新型公开了一种芯片的性能检测设备，包括检测台，所述检测台的上表面通过螺钉固定连接有检测盒，所述检测台的下表面固定连接有转轴，所述转轴的底端固定连接有从动齿轮，所述从动齿轮啮合连接有主动齿轮，所述主动齿轮与伺服电机的输出端进行固定连接，所述检测台的内部滑动连接有放置板，所述放置板的内部设置有芯片。该芯片的性能检测设备，当工作人员检测完芯片后，启动伺服电机，伺服电机可带动主动齿轮进行转动，经过从动齿轮的传动，使转轴进行转动，检测台发生转动，可直接将下一个带有芯片的检测盒转动至测量笔下方，工作人员可继续进行检测，实现连续检测的目的，极大提高了检测效率。
本实用新型一种芯片的性能检测设备在权利要求书中公布了：1.一种芯片的性能检测设备，包括检测台1，其特征在于：所述检测台1的上表面通过螺钉固定连接有检测盒2，所述检测台1的下表面固定连接有转轴3，所述转轴3的底端固定连接有从动齿轮4，所述从动齿轮4啮合连接有主动齿轮5，所述主动齿轮5与伺服电机6的输出端进行固定连接，所述检测台1的内部滑动连接有放置板7，所述放置板7的内部设置有芯片8。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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