买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网获悉澳门科技大学申请的专利半导体异质结构的带隙测试方法、装置和计算机设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119555642B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-26发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411781308.4，技术领域涉及：G01N21/47；该发明授权半导体异质结构的带隙测试方法、装置和计算机设备是由李中俊;李建庆;潘志远;夏之勉;张熙;刘文波;伍乃骐设计研发完成，并于2024-12-05向国家知识产权局提交的专利申请。

本半导体异质结构的带隙测试方法、装置和计算机设备在说明书摘要公布了：本申请涉及一种半导体异质结构的带隙测试方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：采用预设波长范围的可见光分光光度计对第一半导体材料样品进行扫描，获取第一半导体材料样品对应的漫反射光谱；采用预设波长范围的可见光分光光度计对半导体异质结构进行扫描，获取半导体异质结构对应的漫反射光谱；根据第一半导体材料样品对应的漫反射光谱，确定第一半导体材料样品的带隙信息，以及，根据半导体异质结构对应的漫反射光谱，确定半导体异质结构的带隙信息；根据第一半导体材料样品的带隙信息和半导体异质结构的带隙信息，获得针对半导体异质结构的带隙测试结果。采用本方法能够提高对二维材料异质结的带隙测试准确性。

本发明授权半导体异质结构的带隙测试方法、装置和计算机设备在权利要求书中公布了：1.一种半导体异质结构的带隙测试方法，其特征在于，所述方法包括： 采用预设波长范围的可见光分光光度计对第一半导体材料样品进行扫描，获取所述第一半导体材料样品对应的漫反射光谱；所述第一半导体材料样品依次包括透明双面胶带、第一半导体材料和氧化铝背板；所述透明双面胶带的透光性满足预设透光性要求；所述透明双面胶带含有聚甲基丙烯酸酯、聚氨酯胶、硅橡胶、氯丁橡胶、聚醋酸乙烯酯胶的一种或多种； 将所述氧化铝背板作为基底，采用所述预设波长范围的可见光分光光度计的反射模式对所述氧化铝背板进行基线扫描； 采用所述预设波长范围的可见光分光光度计对半导体异质结构进行扫描，获取所述半导体异质结构对应的漫反射光谱；所述半导体异质结构依次包括透明双面胶带、所述第一半导体材料、第二半导体材料、透明双面胶带和氧化铝背板；所述第二半导体材料与所述第一半导体材料为不同的半导体材料； 根据所述第一半导体材料样品对应的漫反射光谱，确定所述第一半导体材料样品的带隙信息，以及，根据所述半导体异质结构对应的漫反射光谱，确定所述半导体异质结构的带隙信息； 根据所述第一半导体材料样品的带隙信息和所述半导体异质结构的带隙信息，获得针对所述半导体异质结构的带隙测试结果。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人澳门科技大学，其通讯地址为：中国澳门氹仔伟龙马路澳门科技大学；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。