深圳市一恒科电子科技有限公司彭超获国家专利权
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龙图腾网获悉深圳市一恒科电子科技有限公司申请的专利一种基于光谱传感器的投影仪自动对焦方法及相关设备获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119484789B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-26发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202411553328.6,技术领域涉及:H04N9/31;该发明授权一种基于光谱传感器的投影仪自动对焦方法及相关设备是由彭超;钟威设计研发完成,并于2024-11-01向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种基于光谱传感器的投影仪自动对焦方法及相关设备在说明书摘要公布了:一种基于光谱传感器的投影仪自动对焦方法及相关设备,在该方法中,对反射光信号进行波长分解,得到光强度值;计算投影仪与投影面之间的初始距离值;对加速度数据和角速度数据进行积分运算,得到位置偏移量和姿态角度偏移量;确定补偿距离,计算实际投影距离;控制步进电机驱动镜头组件移动至目标焦距值对应的对焦位置;控制步进电机驱动镜头组件进行往复移动;在每次往复移动后重新采集新的反射光信号;基于预设映射模型处理新的反射光信号,得到当前测量距离;当当前测量距离与预设最佳成像距离的偏差值首次小于预设阈值时,将最终测量距离对应的对焦位置确定为最终对焦位置。提高了投影仪自动对焦的精度,进而提高了投影画面的清晰度。
本发明授权一种基于光谱传感器的投影仪自动对焦方法及相关设备在权利要求书中公布了:1.一种基于光谱传感器的投影仪自动对焦方法,其特征在于,包括: 在控制光源模组发射预设波段的光信号至投影面后,通过设置于投影仪镜头组件处的光谱传感器采集所述投影面的反射光信号,并对所述反射光信号进行波长分解,得到不同波长的光强度值; 基于预设映射模型,根据所述不同波长的光强度值计算所述投影仪与所述投影面之间的初始距离值; 获取设置于所述投影仪内的惯性测量单元在预设采样周期内采集的加速度数据和角速度数据,并对所述加速度数据和所述角速度数据进行积分运算,得到所述投影仪在三维空间的位置偏移量和姿态角度偏移量; 将所述初始距离值作为基准值,结合所述位置偏移量和所述姿态角度偏移量确定所述投影仪空间位姿变化的补偿距离,并根据所述补偿距离计算所述投影仪相对于所述投影面的实际投影距离; 确定与所述实际投影距离匹配的目标焦距值,并控制步进电机驱动所述镜头组件移动至所述目标焦距值对应的对焦位置; 控制所述步进电机按照自适应步长值驱动所述镜头组件进行往复移动,所述自适应步长值根据当前位置与所述对焦位置的偏差确定; 在每次所述往复移动后触发所述光源模组重新发射所述预设波段的光信号并通过所述光谱传感器采集新的反射光信号; 基于所述预设映射模型处理所述新的反射光信号,得到当前测量距离; 当所述当前测量距离与预设最佳成像距离的偏差值首次小于预设阈值时,将对应的当前测量距离确定为最终测量距离; 将所述最终测量距离对应的对焦位置确定为最终对焦位置,并控制所述步进电机驱动所述镜头组件移动至所述最终对焦位置。
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