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英诺赛科(苏州)半导体有限公司宋亮获国家专利权

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龙图腾网获悉英诺赛科(苏州)半导体有限公司申请的专利一种氮化镓器件获国家实用新型专利权,本实用新型专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN223714496U

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-23发布的实用新型授权公告中获悉:该实用新型的专利申请号/专利号为:202423318772.8,技术领域涉及:H10D30/47;该实用新型一种氮化镓器件是由宋亮;陈扶;赵杰;黄兴杰设计研发完成,并于2024-12-30向国家知识产权局提交的专利申请。

一种氮化镓器件在说明书摘要公布了:本实用新型公开了一种氮化镓器件。该氮化镓器件包括:衬底、沟道层和复合势垒层,包括第一势垒层、第二势垒层、第三势垒层和第四势垒层;第一势垒层位于沟道层远离衬底的一侧;第二势垒层位于第一势垒层远离沟道层的一侧,第二势垒层用作刻蚀阻挡层,用于保护第一势垒层;第三势垒层位于第二势垒层远离第一势垒层的一侧;第四势垒层位于第三势垒层远离第二势垒层的一侧,第四势垒层用作静电消除层;栅极结构,位于第四势垒层远离第三势垒层的一侧,栅极结构包括掺杂的Ⅲ‑Ⅴ族半导体层和栅极;源极和漏极。上述技术方案避免了对沟道层一侧的势垒层进行过刻,并且避免了栅极被静电荷损坏,从而提升了氮化镓器件的电学性能。

本实用新型一种氮化镓器件在权利要求书中公布了:1.一种氮化镓器件,其特征在于,包括: 衬底; 沟道层,位于所述衬底的一侧; 复合势垒层,包括第一势垒层、第二势垒层、第三势垒层和第四势垒层;所述第一势垒层位于所述沟道层远离所述衬底的一侧;所述第二势垒层位于所述第一势垒层远离所述沟道层的一侧,所述第二势垒层用作刻蚀阻挡层,用于保护所述第一势垒层;所述第三势垒层位于所述第二势垒层远离所述第一势垒层的一侧;所述第四势垒层位于所述第三势垒层远离所述第二势垒层的一侧,所述第四势垒层用作静电消除层; 栅极结构,位于所述第四势垒层远离所述第三势垒层的一侧,所述栅极结构包括掺杂的Ⅲ-Ⅴ族半导体层和栅极;所述掺杂的Ⅲ-Ⅴ族半导体层位于所述第四势垒层远离所述第三势垒层的一侧;所述栅极位于所述掺杂的Ⅲ-Ⅴ族半导体层远离所述第四势垒层的一侧; 源极,位于所述第一势垒层远离所述沟道层的一侧; 漏极,位于所述第一势垒层远离所述沟道层的一侧。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人英诺赛科(苏州)半导体有限公司,其通讯地址为:215000 江苏省苏州市吴江区汾湖高新开发区新黎路98号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。

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