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龙图腾网获悉霖鼎光学(上海)有限公司申请的专利基于神经辐射场的旋转平移绝对标定方法、介质及设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120991748B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511493774.7，技术领域涉及：G01B11/24；该发明授权基于神经辐射场的旋转平移绝对标定方法、介质及设备是由任明俊;张鑫泉;张哲;王晰设计研发完成，并于2025-10-20向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于神经辐射场的旋转平移绝对标定方法、介质及设备在说明书摘要公布了：本发明涉及光学精密测量技术领域，特别是涉及基于神经辐射场的旋转平移绝对标定方法、介质及设备。方法步骤：用待标定干涉测量系统获取被测镜原始、旋转及平移位姿下至少三组干涉测量数据，将数据中像素坐标及位置编码信息输入神经辐射场网络，通过自监督训练策略优化网络参数，完成参考镜面形的标定。与传统Zernike方法相比，本方案采用神经辐射场构建双分支网络，能自适应学习复杂面形空间分布，提升中高频误差分离精度；双分支同步直接输出参考镜与被测镜误差，无先后依赖，避免误差传递累积；自监督训练机制通过冗余约束隐式补偿位姿偏差与噪声干扰，展现更高工程鲁棒性。

本发明授权基于神经辐射场的旋转平移绝对标定方法、介质及设备在权利要求书中公布了：1.一种基于神经辐射场的旋转平移绝对标定方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤： 使用待标定干涉测量系统，获取被测镜在原始位置、旋转位姿和平移位姿下的至少三组干涉测量数据；干涉测量数据为根据干涉图获取的面形误差分布数据，其中每一个像素点均以像素坐标x,y、面形高度误差z及像素坐标对应的位置编码信息的形式存在； 将三组所述干涉测量数据中的像素坐标及对应的位置编码信息，输入神经辐射场网络中，生成参考镜面形误差Wref、被测镜面形误差Wtest、旋转位姿的被测镜面形误差WtestRot及平移位姿的被测镜面形误差WtestShift；所述位置编码信息用于将像素坐标映射到高维空间； 其中，神经辐射场网络包括不变面分支网络及可变面分支网络； 所述不变面分支网络用于根据输入的原始位置对应的输入信息生成Wref；所述不变面分支网络包括多层顺序连接的全连接网络，网络中设有至少一个跳接结构； 所述可变面分支网络用于根据输入的原始位置、旋转位姿和平移位姿分别对应的输入信息，分别对应生成Wtest、WtestRot及WtestShift；所述可变面分支网络包括多层顺序连接的全连接网络，网络中设有至少两个跳接结构； 根据每一像素点对应的预测面形高度误差与实际面形高度误差，对所述神经辐射场网络的参数进行自监督训练策略优化；使由两个分支输出结果合成的预测测量结果逼近实际测量结果； 将优化结束时获得的Wref，作为所述待标定干涉测量系统中参考镜面形误差，以完成标定。

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