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龙图腾网获悉成都中嘉微视科技有限公司申请的专利一种基于显微复检的OLED面板检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120894360B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511405155.8，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种基于显微复检的OLED面板检测方法是由郭江;唐玉峰设计研发完成，并于2025-09-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于显微复检的OLED面板检测方法在说明书摘要公布了：本发明涉及OLED面板检测技术领域，一种基于显微复检的OLED面板检测方法，包括：基于面板检测平台中的宏观相机对OLED面板进行检测，得到显微复检队列及扫描缺陷数据集，基于待复检数据计算显微拍摄坐标，利用显微拍摄坐标及显微相机得到显微区域图像，对显微区域图像进行图像处理，得到平滑区域图像，根据平滑区域图像进行高精度缺陷识别，得到高精度缺陷值，根据高精度缺陷值及初步缺陷值计算综合缺陷值，若综合缺陷值大于高精度缺陷阈值，则生成显微缺陷数据，将扫描缺陷数据集及显微缺陷数据集上传至数据中心。本发明可提高OLED面板检测的效率，提升OLED面板检测的智能化水平。

本发明授权一种基于显微复检的OLED面板检测方法在权利要求书中公布了：1.一种基于显微复检的OLED面板检测方法，其特征在于，所述方法包括： 接收面板检测指令，基于面板检测指令确认出面板检测平台，其中，面板检测平台包括：宏观相机、显微相机、显微驱动机械臂及数据中心； 基于面板检测平台中的宏观相机对预获取的OLED面板进行检测，得到显微复检队列及扫描缺陷数据集，其中，显微复检队列包括多个待复检数据，且待复检数据包括：像素中心坐标、中心物理坐标、扫描区域图像及初步缺陷值； 在显微复检队列中依次提取待复检数据，基于待复检数据计算显微拍摄坐标，根据显微拍摄坐标及显微驱动机械臂对显微相机进行移动，得到目标显微相机； 基于目标显微相机进行拍摄，得到显微区域图像，对显微区域图像进行滤波，得到滤波区域图像，对滤波区域图像进行梯度计算，得到梯度区域图像； 基于梯度区域图像进行非极大值抑制，得到平滑区域图像，根据平滑区域图像进行高精度缺陷识别，得到高精度缺陷值； 所述根据平滑区域图像进行高精度缺陷识别，得到高精度缺陷值，包括： 对平滑区域图像进行二值化，得到二值区域图像； 对二值区域图像进行连通域处理，得到多个连通域； 在多个连通域中依次提取连通域，识别连通域的当前面积，若当前面积大于预设的噪点面积阈值，则将所述连通域记为缺陷连通域； 汇总缺陷连通域，得到缺陷连通域集，基于缺陷连通域集计算高精度缺陷值，其中，高精度缺陷值表示为： ， 其中，表示高精度缺陷值，表示以自然常数为底的指数函数，表示预设的可调节系数，表示缺陷连通域集中缺陷连通域的数量，表示缺陷连通域集中的第个缺陷连通域的面积，表示二值区域图像的面积，表示对数函数； 根据高精度缺陷值及待复检数据中的初步缺陷值进行加权计算，得到综合缺陷值； 若综合缺陷值大于预设的高精度缺陷阈值，则基于显微区域图像、高精度缺陷值及待复检数据生成显微缺陷数据，其中，高精度缺陷阈值为判断综合缺陷值对应的显微区域图像中是否发生了严重缺陷的常数； 汇总显微缺陷数据，得到显微缺陷数据集，将扫描缺陷数据集及显微缺陷数据集上传至数据中心，完成基于显微复检的OLED面板检测。

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