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龙图腾网获悉深圳市昂科技术有限公司申请的专利基于ALPG测试系统的芯片智能化检测方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120870842B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511403994.6，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权基于ALPG测试系统的芯片智能化检测方法及系统是由黄斌华;林示麟设计研发完成，并于2025-09-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于ALPG测试系统的芯片智能化检测方法及系统在说明书摘要公布了：本发明涉及一种基于ALPG测试系统的芯片智能化检测方法及系统，属数据识别分析聚类技术领域。该方法从基于ALPG测试系统获取的已确定芯片缺陷的历史数据中选取芯片缺陷检测次序构成缺陷数据集，对可反映芯片缺陷的缺陷存储单元在缺陷数据集中的分布特征构建缺陷产生可信度排除环境噪声对芯片缺陷判断干扰，结合芯片缺陷产生时各性能参数变化情况确定其对缺陷敏感度，然后以存储单元的位置、缺陷产生可信度、对缺陷的敏感度、性能参数取值对缺陷数据聚类得到聚类簇，将当前检测次序下检测数据与聚类簇对比完成当前芯片检测。本方法可在ALPG测试系统的基础上自动且准确地识别芯片的缺陷类型，提高ALPG测试芯片检测的效率。

本发明授权基于ALPG测试系统的芯片智能化检测方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种基于ALPG测试系统的芯片智能化检测方法，其特征在于，包括： 获取基于ALPG测试系统对目标类型芯片批量检测时所得历史检测数据集，历史检测数据集的任一检测次序下包括对相应芯片的一组历史检测数据及缺陷标定值，缺陷标定值包括无缺陷及各缺陷类型的对应值，从历史检测数据集的所有检测次序中选取存在缺陷的检测次序构成缺陷数据集； 根据目标类型芯片中任一存储单元在缺陷数据集中出现缺陷的频次、缺陷出现的频率稳定性以及出现的缺陷的分散性，得到任一存储单元的缺陷产生可信度； 以任一性能参数在缺陷数据集中的整体取值变化量与其对应取值范围的变化量的比值，以及任一性能参数在缺陷数据集中的取值相较于任一性能参数在历史检测数据集中的平均取值的偏离程度，确定任一性能参数对缺陷的敏感度； 根据存储单元的位置、存储单元的缺陷产生可信度、性能参数对缺陷的敏感度以及性能参数取值对缺陷数据集中的所有检测次序进行聚类，判断当前检测次序下是否存在存储单元读写错误，并在存在时判断当前检测次序所属聚类簇完成对当前检测次序下相应芯片缺陷类型的确定； 所述存储单元的缺陷产生可信度为： ， 其中，为第q个存储单元的缺陷产生可信度，为第q个存储单元在缺陷数据集中出现缺陷的次数，为缺陷数据集的检测次序总数，表示第q个存储单元在缺陷数据集中出现缺陷的所有检测次序中第i个检测次序与第i+1个检测次序之间的间隔时长，表示第q个存储单元在缺陷数据集中出现缺陷的所有检测次序中相邻两个检测次序之间的间隔时长的均值，表示以自然数为底的指数函数，表示对第q个存储单元在缺陷数据集中出现缺陷的所有检测次序进行一维聚类后所得一维聚类簇的总数，表示第j个一维聚类簇中检测次序的总数，表示第j个一维聚类簇中第z个检测次序与第z+1个检测次序的间隔时长； 所述性能参数对缺陷的敏感度为： ， 其中，表示第p个性能参数对缺陷的敏感度，表示缺陷数据集中第p个性能参数的最大值，表示缺陷数据集中第p个性能参数的最小值，表示第p个性能参数的取值范围上限值，表示第p个性能参数的取值范围下限值，为缺陷数据集中检测次序的总数，为缺陷数据集中第i个检测次序下第p个性能参数的取值，为历史检测数据集中第p个性能参数的均值，为线性归一化。

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