买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网获悉浙江广芯微电子有限公司申请的专利一种COOLMOS老化测试方案生成方法及平台获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120870802B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511349114.1，技术领域涉及：G01R31/26；该发明授权一种COOLMOS老化测试方案生成方法及平台是由谢刚;湛亚鑫设计研发完成，并于2025-09-22向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种COOLMOS老化测试方案生成方法及平台在说明书摘要公布了：本发明公开了一种COOLMOS老化测试方案生成方法及平台，涉及半导体器件老化测试相关领域，包括：获取COOLMOS的规格信息并部署物理测试场景；连接自动化测试平台并引入逻辑测试插件，基于物理测试场景初始化逻辑测试插件，自动化测试平台对COOLMOS服役周期进行分阶段，确定阶段测试序列；触发逻辑测试插件，以测试电路拓扑‑阶段电路切换‑电路稳恒加速为目标，逐阶段进行基于知识推理下的测试决策，生成老化测试序列；引入边缘节点并连接物理测试端，执行基于自动化测试平台与物理测试端协同的并行测试管理。解决现有COOLMOS老化测试存在的测试效率和准确性不足的技术问题，达到提高测试效率和准确性的技术效果。

本发明授权一种COOLMOS老化测试方案生成方法及平台在权利要求书中公布了：1.一种COOLMOS老化测试方案生成方法，其特征在于，所述方法包括： 获取COOLMOS的规格信息并部署物理测试场景； 连接自动化测试平台并引入逻辑测试插件，基于所述物理测试场景初始化所述逻辑测试插件，自动化测试平台对COOLMOS服役周期进行分阶段，确定阶段测试序列； 针对所述阶段测试序列，触发所述逻辑测试插件，以测试电路拓扑-阶段电路切换-电路稳恒加速为目标，逐阶段进行基于知识推理下的测试决策，生成老化测试序列； 引入边缘节点并连接物理测试端，执行基于所述自动化测试平台与物理测试端协同的并行测试管理； 以测试电路拓扑-阶段电路切换-电路稳恒加速为目标，逐阶段进行基于知识推理下的测试决策，包括： 确定第一阶段测试节点，其中，所述第一阶段测试节点为所述阶段测试序列中任一序列节点； 触发所述逻辑测试插件，以所述物理测试场为基础条件，进行电路结构与电路驱动参数决策，确定第一测试电路拓扑，其中，所述第一测试电路拓扑为COOLMOS的接入电路； 以第一测试电路拓扑，生成第一老化测试方案。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人浙江广芯微电子有限公司，其通讯地址为：323000 浙江省丽水市莲都区南明山街道七百秧街122号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。