西安电子工程研究所张文博获国家专利权
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龙图腾网获悉西安电子工程研究所申请的专利一种FPGA通信功能验证工装获国家实用新型专利权,本实用新型专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN223692752U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-19发布的实用新型授权公告中获悉:该实用新型的专利申请号/专利号为:202520177729.X,技术领域涉及:G06F11/26;该实用新型一种FPGA通信功能验证工装是由张文博;刘静;管沛;张小玲;李菲利;薛青青;王震辰;程馨毅设计研发完成,并于2025-01-27向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种FPGA通信功能验证工装在说明书摘要公布了:本申请公开了一种FPGA通信功能验证工装,通过设置于同一PCB电路板上的至少两组相同的配置适配器,每组适配器均包括第一适配模块和第二适配模块;第一适配模块包括:与第一待测FPGA分别通信连接的第一Flash存储器、第一JTAG接口、第一DDR3SDRAM存储器和第一晶振电路;第二适配模块包括:与第二待测FPGA分别通信连接的第二Flash存储器、第二JTAG接口、第二DDR3SDRAM存储器和第二晶振电路;第一待测FPGA通信连接第二待测FPGA,实现了利用该工装配合高低温箱或温湿度箱以及电子计算机,能够同时完成在各类环境应力条件下FPGA通信功能验证。
本实用新型一种FPGA通信功能验证工装在权利要求书中公布了:1.一种FPGA通信功能验证工装,其特征在于,包括: 设置于同一PCB电路板上的至少两组相同的配置适配器,每组适配器均包括第一适配模块和第二适配模块; 所述第一适配模块包括: 与第一待测FPGA分别通信连接的第一Flash存储器、第一JTAG接口、第一DDR3SDRAM存储器和第一晶振电路; 所述第二适配模块包括: 与第二待测FPGA分别通信连接的第二Flash存储器、第二JTAG接口、第二DDR3SDRAM存储器和第二晶振电路; 所述第一待测FPGA通信连接所述第二待测FPGA; 其中,所述第一Flash存储器和第二Flash存储器分别用于存储所述第一待测FPGA和所述第二待测FPGA测试程序; 所述第一JTAG接口和所述第二JTAG接口分别用于接收测试主机发送的所述测试程序,并将所述测试程序分别通过所述第一待测FPGA和所述第二待测FPGA测试程序对应发送至第一Flash存储器和第二Flash存储器; 所述第一DDR3SDRAM存储器和所述第二DDR3SDRAM存储器用于验证所述第一待测FPGA和所述第二待测FPGA之间的通信是否异常; 所述第一晶振电路和所述第二晶振电路分别用于向所述第一待测FPGA和所述第二待测FPGA提供时钟信号。
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