常州银芯微功率半导体有限公司余其伟获国家专利权
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龙图腾网获悉常州银芯微功率半导体有限公司申请的专利多功能IGBT静态测试夹具及测试系统获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223692418U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-19发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202423247129.0，技术领域涉及：G01R1/04；该实用新型多功能IGBT静态测试夹具及测试系统是由余其伟;顾磊设计研发完成，并于2024-12-27向国家知识产权局提交的专利申请。
本多功能IGBT静态测试夹具及测试系统在说明书摘要公布了：本实用新型属于IGBT测试技术领域，具体涉及多功能IGBT静态测试夹具及测试系统，包括：控制模块，以及与所述控制模块电性连接的升降机构和检测机构；所述升降机构设置在所述检测机构下方；所述升降机构适于承载待测器件；所述控制模块被配置为控制升降机构承载待测器件向上移动至所述检测机构的检测位后，再控制检测机构检测测器件，进而实现了自动将待测器件与检测机构连接，提高了待测器件的检测效率。
本实用新型多功能IGBT静态测试夹具及测试系统在权利要求书中公布了：1.一种多功能IGBT静态测试夹具，其特征在于，包括： 控制模块，以及与所述控制模块电性连接的升降机构1和检测机构2； 所述升降机构1设置在所述检测机构2下方； 所述升降机构1适于承载待测器件4； 所述控制模块被配置为控制升降机构1承载待测器件4向上移动至所述检测机构2的检测位后，再控制检测机构2检测测器件4。
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