矽佳半导体(嘉兴)有限公司常浩获国家专利权
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龙图腾网获悉矽佳半导体(嘉兴)有限公司申请的专利一种芯片老化测试连接结构获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223692401U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-19发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202422959367.8，技术领域涉及：G01R1/04；该实用新型一种芯片老化测试连接结构是由常浩;刘增红;陈春设计研发完成，并于2024-12-02向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种芯片老化测试连接结构在说明书摘要公布了：本实用新型涉及芯片测试相关技术领域，尤其涉及一种芯片老化测试连接结构，包括老化箱，所述老化箱的内侧表面设置有更换连接机构。该一种芯片老化测试连接结构，通过更换连接机构的设置，在使用时，按压半圆卡块，半圆卡块从半圆卡槽中脱出，解除对接口板的锁定约束，随后，将新的接口板推入到固定板内，当接口板推送至半圆卡槽与半圆卡块位置对应时，在弹簧的回弹力作用下，半圆卡块迅速卡入半圆卡槽内，实现接口板在固定板上的牢固锁定，即可快速完成更换动作，重新建立可靠连接，保障老化测试工作灵活、高效开展，连接操作简便，可以根据需求灵活调整和更换，大大提高了测试的效率。
本实用新型一种芯片老化测试连接结构在权利要求书中公布了：1.一种芯片老化测试连接结构，包括老化箱1，其特征在于：所述老化箱1的外侧表面转动连接有合页2，所述合页2的一侧表面转动连接有柜门3，所述老化箱1的内侧表面设置有更换连接机构4，所述老化箱1的内侧表面设置有稳定机构5； 所述更换连接机构4包括固定板401、滑动槽402、滑动块403、弹簧404、半圆卡块405、接口板406、半圆卡槽407和金属片408，所述老化箱1的内侧表面固定连接有固定板401，所述固定板401的内侧表面开设有滑动槽402，所述滑动槽402的内侧表面滑动连接有滑动块403，所述滑动块403的一端表面固定连接有弹簧404，所述滑动块403的一端表面固定连接有半圆卡块405，所述半圆卡块405的外侧表面滑动连接有接口板406，所述接口板406的一侧表面开设有半圆卡槽407，所述接口板406的内侧表面固定连接有金属片408。
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