昆山沪利微电有限公司李勇江获国家专利权
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龙图腾网获悉昆山沪利微电有限公司申请的专利一种电路板板厚及介层厚度量测装置获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223678447U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-16发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202520311958.6，技术领域涉及：G01B11/06；该实用新型一种电路板板厚及介层厚度量测装置是由李勇江;虞成;邱偏设计研发完成，并于2025-02-26向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种电路板板厚及介层厚度量测装置在说明书摘要公布了：本实用新型公开了一种电路板板厚及介层厚度量测装置，包括测量箱、测量机构和放置机构，放置机构用于固定待测量的电路板，测量机构包括和安装于调节组件的激光干涉测量仪，以及相对设置并且相互适配的X射线发射仪和X射线探测器，调节组件能够驱动激光干涉测量仪沿横向、纵向和竖直方向活动，保障激光干涉测量仪对电路板测量的准确性，本实用新型通过X射线发射仪和X射线探测器以及激光干涉测量仪实现对电路板的无接触式测量，避免了接触式测量可能带来的划伤风险。
本实用新型一种电路板板厚及介层厚度量测装置在权利要求书中公布了：1.一种电路板板厚及介层厚度量测装置，其特征在于，包括： 测量箱； 测量机构，其设置于测量箱内，包括调节组件和安装于所述调节组件的激光干涉测量仪，以及相对设置并且相互适配的X射线发射仪和X射线探测器，所述调节组件能够驱动所述激光干涉测量仪沿横向、纵向和竖直方向活动； 放置机构，其用于固定待测量的电路板；所述放置机构设置于测量箱内，并且位于所述激光干涉测量仪的下方及X射线发射仪和X射线探测器之间。
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