合肥维信诺科技有限公司何伟获国家专利权
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龙图腾网获悉合肥维信诺科技有限公司申请的专利一种测量显示面板的参数的方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120603468B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-16发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202511050130.0,技术领域涉及:H10K71/70;该发明授权一种测量显示面板的参数的方法是由何伟设计研发完成,并于2025-07-29向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种测量显示面板的参数的方法在说明书摘要公布了:本申请提供一种测量显示面板的参数的方法,显示面板包括基板和设置于基板一侧的像素定义层,像素定义层限定出多个像素开口且包括朝向像素开口的侧壁,侧壁在基板上的正投影的宽度为显示面板的第一线宽,方法包括:在像素定义层背离基板的一侧对显示面板进行拍照、并获取目标图像,目标图像包括划分出多个颜色分区的多个边界线,多个边界线包括环绕发光区的第一边界线和靠近第一边界线的第二边界线;获取位于第一边界线上的第一目标点对应的第一坐标和位于第二边界线上且靠近第一目标点的第二目标点对应的第二坐标;计算第一坐标和第二坐标之间的距离并作为第一线宽的第一参数测量结果。本方法可以精准地确定出显示面板的测量指标的参数测量结果。
本发明授权一种测量显示面板的参数的方法在权利要求书中公布了:1.一种测量显示面板的参数的方法,其特征在于,所述显示面板包括基板和设置于所述基板一侧的像素定义层,所述像素定义层限定出多个像素开口、且包括朝向所述像素开口的侧壁,所述侧壁在所述基板上的正投影的宽度为所述显示面板的第一线宽,所述方法包括: 在所述像素定义层背离所述基板的一侧对所述显示面板进行拍照、并获取目标图像,其中,所述目标图像包括待测量区域,且所述目标图像包括划分出多个颜色分区的多个边界线,所述多个颜色分区包括对应于所述像素开口的发光区,所述多个边界线包括环绕所述发光区的第一边界线和靠近所述第一边界线的第二边界线;确定所述边界线的过程包括:针对所述待测量区域中的每一像素,确定所述像素在各基本颜色通道分别对应的灰阶值;确定各所述基本颜色通道对应的灰阶值范围,并根据各所述灰阶值范围确定目标颜色通道;根据所述目标颜色通道中的各目标灰阶值在预设方向的灰阶值分布确定所述边界线; 获取位于所述第一边界线上的第一目标点对应的第一坐标,和位于所述第二边界线上、且靠近所述第一目标点的第二目标点对应的第二坐标; 计算所述第一坐标和所述第二坐标之间的距离、并作为所述第一线宽的第一参数测量结果。
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