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龙图腾网获悉成都技致光电科技有限公司申请的专利一种高透射光学材料的内透过率测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120522140B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-16发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510791677.X，技术领域涉及：G01N21/59；该发明授权一种高透射光学材料的内透过率测量方法是由李斌成设计研发完成，并于2025-06-13向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种高透射光学材料的内透过率测量方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种高透射光学材料的内透过率测量方法，涉及光学材料性能参数测量领域。本发明综合引入贝叶斯优化与物理信息神经网络算法，实现了对材料透过性能的高精度反演与预测；其中，利用脉冲光腔衰荡技术实现了高时间分辨率测量，确保了对高内透过率材料在极低损耗范围内的精确评估，为超高透过率材料的非破坏性、可追溯测量提供了可行路径；解决了分光光度方法无法准确测量光学材料99.0%cm及以上内透过率的问题，采用脉冲光腔衰荡技术实现了高透射光学材料高于99.0%cm内透过率的准确测量，最高测量精度可达到0.0001%cm。

本发明授权一种高透射光学材料的内透过率测量方法在权利要求书中公布了：1.一种高透射光学材料的内透过率测量方法，其特征在于，包括以下步骤： S1.制备提供至少两个采用被测高透射光学材料制备的厚度不同的平面光学元件，分别测量各平面光学元件的实际衰荡时间，并根据初始腔衰荡时间和各平面光学元件的实际衰荡时间，计算测量损耗值； S2.根据测量得到的实际衰荡时间，建立含平面光学元件的测试腔理论衰荡信号模型；对模型输出的理论衰荡信号与光电探测器的时域响应函数进行卷积，得到模拟的检测信号；并对模拟的检测信号根据单指数衰减形式进行最小二乘拟合，提取理论衰荡时间，并根据理论衰荡时间计算对应的理论损耗值； S3.将计算的测量损耗值与理论损耗值作为输入数据，结合贝叶斯优化算法构建损耗映射模型，并通过损耗映射模型输出多个厚度不同的平面光学元件校正后的实际损耗值； S4.基于多个厚度不同的平面光学元件校正后的实际损耗值，结合样品厚度差异，采用线性拟合法提取单位长度下的体光学损耗率； S5.将提取得到的体光学损耗率与被测光学材料的基本光学参数信息作为输入参数，构建物理信息神经网络模型进行透过率反演预测；并通过物理信息神经网络模型结合物理先验约束关系，输出被测高透射光学材料的内透过率； 所述基本光学参数信息包括：材料厚度、体损耗率、波长参数与材料折射率光学常数。

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