北京元分子医疗科技有限公司张陈获国家专利权
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龙图腾网获悉北京元分子医疗科技有限公司申请的专利SPECT图像的校正方法及装置、电子设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120125478B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-16发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510085111.5，技术领域涉及：G06T5/80；该发明授权SPECT图像的校正方法及装置、电子设备及存储介质是由张陈;廖晖;赵周社设计研发完成，并于2025-01-20向国家知识产权局提交的专利申请。
本SPECT图像的校正方法及装置、电子设备及存储介质在说明书摘要公布了：本申请适用于医学影像技术领域，提供了一种单光子发射型计算机断层扫描图像的校正方法、装置、电子设备及存储介质，其中该方法包括：获取通过单光子发射型计算机断层扫描得到的多能窗扫描数据，多能窗扫描数据包括主能窗扫描数据和至少一个散射窗扫描数据；使用主能窗扫描数据重建得到主能窗图像，并使用散射窗扫描数据重建得到散射窗图像；使用主能窗图像和散射窗图像计算衰减系数图像；使用衰减系数图像对主能窗图像进行校正，得到单光子发射型计算机断层扫描图像。
本发明授权SPECT图像的校正方法及装置、电子设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种单光子发射型计算机断层扫描的校正方法，其特征在于，所述方法包括： 获取通过单光子发射型计算机断层扫描得到的多能窗扫描数据，所述多能窗扫描数据包括主能窗扫描数据和至少一个散射窗扫描数据； 使用所述主能窗扫描数据重建得到主能窗图像，并使用所述散射窗扫描数据重建得到散射窗图像； 使用所述主能窗图像和所述散射窗图像计算衰减系数图像； 使用所述衰减系数图像对所述主能窗图像进行校正，得到单光子发射型计算机断层扫描图像； 其中所述使用所述主能窗图像和所述散射窗图像计算衰减系数图像包括： 将所述散射窗图像除以所述主能窗图像得到中间图像； 对所述中间图像进行后处理得到散射分数图像，所述后处理包括图像校正、平滑和归一化中的至少一种； 遍历所述散射分数图像，根据所述散射分数图像中体素的取值范围与衰减系数的映射关系，将所述散射分数图像中各体素的值对应的衰减系数赋值给所述衰减系数图像中对应的体素，所述衰减系数图像的大小与所述散射分数图像相同，并且所述衰减系数图像中每个体素的值由所述散射分数图像中对应的体素的值决定。
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