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龙图腾网获悉中国科学院上海技术物理研究所申请的专利一种多波段光电成像系统面积测量误差评估方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120027739B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-16发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510230401.4，技术领域涉及：G01B11/28；该发明授权一种多波段光电成像系统面积测量误差评估方法是由岳娟;高思莉;郝世菁;于洋;陆昉劼;雷萍;刘源;李范鸣;李争设计研发完成，并于2025-02-28向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种多波段光电成像系统面积测量误差评估方法在说明书摘要公布了：本发明公开一种多波段光电成像系统面积测量误差评估方法。在光电成像系统工作距离远处，阵列式布设一定间隔的多波段辐射源，以此作为观测目标开展光电成像系统面积测量误差评估试验，以观测目标在成像系统光轴垂直面上的投影面积为目标面积真值，与光电成像系统目标面积测量值进行比对，评估系统面积测量误差。可根据光电成像系统工作距离远、观测面积大的特点，调整辐射源布设间距，布设大尺寸目标阵列，构建和成像系统工作距离相匹配的可测量目标面积真值，开展有效评估，目标辐射源成本低、试验易于操作；通过合理布设多波段阵列辐射源，可以满足多波段多分辨率探测需求下的面积测量误差评估，普适性很强，具有重要意义。

本发明授权一种多波段光电成像系统面积测量误差评估方法在权利要求书中公布了：1.一种多波段光电成像系统面积测量误差评估方法，其特征在于：在光电成像系统工作距离远处，阵列式布设一定间隔的多波段辐射源，以此作为观测目标开展光电成像系统面积测量误差评估试验，以观测目标在成像系统光轴垂直面上的投影面积为目标面积真值，与光电成像系统目标面积测量值进行比对，评估系统面积测量误差； 具体包含以下步骤： 1根据光电成像系统视场角α和工作距离R，确定其在工作距离R处的线视场LFOV；计算公式如下： LFOV＝2R×tandα2公式1 其中tand为正切函数； 2选定试验场地； 3确定辐射源布设间隔ΔL和阵列规格； 4进行成像试验，记录成像数据； 5选取辐射源阵列目标，计算光电成像系统面积测量值S*； 6计算步骤5所选取的辐射源阵列目标在成像系统光轴垂直面上的投影面积S； 7计算面积测量误差ε： ε＝|S-S*|S公式7； 8选取不同的辐射源阵列目标，重复步骤5～73～5次，取面积测量误差平均值，作为光电成像系统该工作波段最终面积测量误差； 9针对多波段光电成像系统，结合各工作波段成像分辨率，选择合适的辐射源阵列目标，重复步骤5～8，获取光电成像系统各工作波段面积测量误差。

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