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龙图腾网获悉深圳国微福芯技术有限公司申请的专利集成电路的形式验证方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119514439B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-16发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411593647.X，技术领域涉及：G06F30/3323；该发明授权集成电路的形式验证方法是由刘美华;苏宇;林岩设计研发完成，并于2024-11-08向国家知识产权局提交的专利申请。

本集成电路的形式验证方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种集成电路的形式验证方法，包括：获取待验证的属性，并依次分析每一个属性；若不存在已分析的属性，或者当前属性与已分析的属性的无关联关系，则直接为当前属性生成其对应的影响锥，并记录信号集；若当前属性与已分析的属性互为关联属性，则判断两者的影响锥共享程度；若两者的影响锥共享程度低于预设共享程度，则直接为当前属性生成其对应的影响锥，并记录该影响锥对应的信号集；否则生成扩展影响锥作为当前属性与该已分析的属性的影响锥，并记录该影响锥对应的信号集；扩展锥为在对应的影响锥的基础上追加当前属性的信号而生成的影响锥；当所有属性均分析完毕，基于影响锥进行形式验证。本发明可以减少重复验证，提高验证效率。

本发明授权集成电路的形式验证方法在权利要求书中公布了：1.一种集成电路的形式验证方法，其特征在于，包括： 获取集成电路的待验证的属性，并依次分析每一个属性； 若不存在已分析的属性，或者当前属性与任意一个已分析的属性的无关联关系，则直接为当前属性生成其对应的影响锥，并记录该影响锥对应的信号集； 若当前属性与任意一个已分析的属性互为关联属性，则判断两者的影响锥共享程度； 若两者的影响锥共享程度低于预设共享程度，则直接为当前属性生成其对应的影响锥，并记录该影响锥对应的信号集；否则以对应的已分析的属性的影响锥为基础，生成扩展影响锥作为当前属性与该已分析的属性的影响锥，并记录该影响锥对应的信号集；所述扩展影响锥为在对应的影响锥的基础上追加当前属性的信号而生成的影响锥； 当所有属性均分析完毕时，基于所述属性的影响锥进行形式验证； 判断当前属性与其关联属性的共享程度包括： 依次判断当前属性的各个信号与该当前属性的关联属性之间的共享程度； 在当前属性的关联属性的影响锥中找到当前信号； 统计当前信号到该影响锥的锥顶所跨的基元的数量m，以及当前信号到该影响锥的锥底所跨的基元的数量n； m和n满足n＜m*k，则认为当前信号对应的影响锥与该关联属性对应的影响锥低于预设共享程度，否则认为当前信号对应的影响锥与该关联属性对应的影响锥高于预设共享程度，0＜k＜1。

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