西安电子科技大学刘文康获国家专利权
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龙图腾网获悉西安电子科技大学申请的专利适用于高轨SAR地表坐标系成像的背景电离层校正方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118837883B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-16发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410848785.1，技术领域涉及：G01S13/90；该发明授权适用于高轨SAR地表坐标系成像的背景电离层校正方法是由刘文康;孙光才;柴冰洁;兰朋伟;邢孟道设计研发完成，并于2024-06-27向国家知识产权局提交的专利申请。
本适用于高轨SAR地表坐标系成像的背景电离层校正方法在说明书摘要公布了：本发明提供了一种适用于高轨SAR地表坐标系成像的背景电离层校正方法，通过接收高轨SAR回波信号并获取其对应的背景电离层TEC数据，并根据电离层TEC数据对回波信号的背景电离层相位误差进行粗补偿；对粗补偿后的数据进行高轨SAR地表曲面坐标系成像，得到大场景图像；通过自聚焦算法和大场景图像，估计回波信号对应的未经粗补偿的相位的相位误差得到估计结果；通过最小二乘法拟合估计结果，根据拟合结果确定大场景图像对应的电离层时空耦合模型的系数矩阵；将大场景图像划分为多个子场景图像，根据所确定的系数矩阵和各子场景图像，对各子场景图像进行背景电离层相位误差精补偿，以完成校正，实现了对高轨SAR地表曲面坐标系成像的校正。
本发明授权适用于高轨SAR地表坐标系成像的背景电离层校正方法在权利要求书中公布了：1.一种适用于高轨SAR地表坐标系成像的背景电离层校正方法，其特征在于，包括： 接收高轨SAR回波信号； 获取所述高轨SAR回波信号对应的背景电离层TEC数据，并根据所述电离层TEC数据对所述高轨SAR回波信号的背景电离层相位误差进行粗补偿； 对粗补偿背景电离层相位误差后的数据进行高轨SAR地表曲面坐标系成像，得到大场景图像； 通过自聚焦算法和所述大场景图像，估计所述高轨SAR回波信号对应的未经粗补偿的相位的相位误差，得到估计结果； 通过最小二乘法拟合所述估计结果，并根据拟合后的估计结果确定所述大场景图像对应的电离层时空耦合模型的系数矩阵； 将所述大场景图像划分为多个子场景图像，根据所述大场景图像对应的电离层时空耦合模型的系数矩阵和各所述子场景图像，对各所述子场景图像进行背景电离层相位误差精补偿，以完成所述大场景图像的校正。
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