传周半导体科技(上海)有限公司隆茂生获国家专利权
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龙图腾网获悉传周半导体科技(上海)有限公司申请的专利一种用于光电编码器芯片的测试方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116953484B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-16发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310962052.6，技术领域涉及：G01D18/00；该发明授权一种用于光电编码器芯片的测试方法及装置是由隆茂生;高朕;张义荣设计研发完成，并于2023-08-01向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种用于光电编码器芯片的测试方法及装置在说明书摘要公布了：本发明提供一种用于光电编码器芯片的测试方法及装置，方法包括以下步骤：获取TFT显示模块上与芯片匹配的码盘信息；调节背光亮度，模拟不同亮度的LED；当调用与所述芯片相匹配的所述码盘信息为静态图片时，进行芯片静态测试；当调用与所述芯片相匹配的所述码盘信息为动态视频时，进行芯片动态测试。本发明提供的用于光电编码器芯片的测试方法及装置，通过设置TFT显示模块进行芯片静态测试以及芯片动态测试，从而提高芯片测试的效率。
本发明授权一种用于光电编码器芯片的测试方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种用于光电编码器芯片的测试方法，其特征在于，包括以下步骤： 光源设置于被测芯片的感光区的正上方，TFT显示模块设置于光源与感光区之间，所述TFT显示模块与控制模块电性连接，所述控制模块根据感光区的位置和形状控制所述TFT显示模块模拟不同的码盘；获取TFT显示模块上与所述被测芯片匹配的码盘信息； 调节所述光源的背光亮度，模拟不同亮度的LED； 当调用与所述被测芯片相匹配的所述码盘信息为静态图片时，进行芯片静态测试； 当调用与所述被测芯片相匹配的所述码盘信息为动态视频时，进行芯片动态测试； 所述控制模块自动动态调整所述TFT显示模块的透光位置，所述被测芯片上设置有第一对位标记，所述TFT显示模块的码盘的图片设置有第二对位标记，当所述被测芯片输出的电流电压信号达到最大值，所述第二对位标记和所述第一对位标记完全重合。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人传周半导体科技(上海)有限公司，其通讯地址为：201203 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区龙东大道3000号1幢A座1006室D-2座；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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