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龙图腾网获悉成都数之联科技股份有限公司申请的专利一种电解电容夹扁缺陷检测方法、系统、设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116823781B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-16发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310800911.1，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种电解电容夹扁缺陷检测方法、系统、设备及存储介质是由请求不公布姓名;请求不公布姓名;请求不公布姓名设计研发完成，并于2023-07-03向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种电解电容夹扁缺陷检测方法、系统、设备及存储介质在说明书摘要公布了：本发明提供一种电解电容夹扁缺陷检测方法、系统、设备及存储介质，涉及工业质检技术领域，所述方法步骤为：将待检测的元器件图像输入语义分割模型，通过语义分割模型提取胶管轮廓；基于胶管轮廓获取胶管外侧圆环、胶管外接矩形或胶管轮廓交点组合，其中，所述胶管轮廓交点组合包括胶管轮廓中心线与胶管轮廓的两个交点；计算胶管外侧圆环的圆度、胶管外接矩形的长宽比值或胶管轮廓交点组合的距离，以得到胶管轮廓计算结果；基于胶管轮廓计算结果判定电解电容元器件是否存在夹扁缺陷。本发明基于深度学习技术和工程处理技术，并且结合电解电容的实际结构进行综合判定，解决了现有电解电容夹扁缺陷检测存在漏检的问题。

本发明授权一种电解电容夹扁缺陷检测方法、系统、设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种电解电容夹扁缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤： 将待检测的元器件图像输入语义分割模型，通过语义分割模型提取胶管轮廓，其中，所述待检测的元器件图像为电解电容元器件的顶部图像或底部图像； 基于胶管轮廓获取胶管外侧圆环、胶管外接矩形或胶管轮廓交点组合，其中，所述胶管轮廓交点组合包括胶管轮廓中心线与胶管轮廓的两个交点； 计算胶管外侧圆环的圆度、胶管外接矩形的长宽比值或胶管轮廓交点组合的距离，以得到胶管轮廓计算结果； 基于胶管轮廓计算结果判定电解电容元器件是否存在夹扁缺陷； 第一种：基于胶管轮廓获取胶管外侧圆环，并且计算胶管外侧圆环的圆度，以得到胶管轮廓计算结果，并且基于胶管轮廓计算结果判定电解电容元器件是否存在夹扁缺陷，具体流程为： 首先基于胶管轮廓的坐标信息获取胶管外侧圆环，并且计算胶管外侧圆环的面积和周长；然后基于胶管外侧圆环的面积area和周长perimeter计算胶管外侧圆环的圆度e，以胶管外侧圆环的圆度作为第一胶管轮廓计算结果；如果第一胶管轮廓计算结果即圆度e小于第一阈值，则判定电解电容元器件存在夹扁缺陷； 第二种：基于胶管轮廓获取胶管外接矩形，计算胶管外接矩形的长宽比值，以得到胶管轮廓计算结果，并且基于胶管轮廓计算结果判定电解电容元器件是否存在夹扁缺陷，具体流程为： 首先基于胶管轮廓的坐标信息设置若干不同角度的胶管外接矩形，然后分别获取若干不同角度胶管外接矩形的长度和宽度，并且分别基于若干不同角度胶管外接矩形的长度和宽度计算若干胶管外接矩形的长宽比值，以若干胶管外接矩形的长宽比值作为第二胶管轮廓计算结果，如果第二胶管轮廓计算结果中存在胶管外接矩形的长宽比值小于第二阈值，则判定电解电容元器件存在夹扁缺陷； 第三种：基于胶管轮廓获取胶管轮廓交点组合，计算胶管轮廓交点组合的距离，以得到胶管轮廓计算结果，基于胶管轮廓计算结果判定电解电容元器件是否存在夹扁缺陷，具体流程为： 首先基于胶管轮廓的坐标信息获取胶管轮廓中心，经过胶管轮廓中心设置若干不同角度的线段，并且获取若干不同角度线段与胶管轮廓外侧的胶管轮廓交点组合；然后分别基于若干不同角度线段与胶管轮廓外侧的胶管轮廓交点组合计算胶管轮廓交点组合的距离，以胶管轮廓交点组合的最小距离和最大距离的比值作为第三胶管轮廓计算结果，如果第三胶管轮廓计算结果小于第三阈值，则判定电解电容元器件存在夹扁缺陷。

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