北京航空航天大学韩世伟获国家专利权
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龙图腾网获悉北京航空航天大学申请的专利循环塑性分析方法、装置、电子设备及可读存储介质获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN116612840B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-16发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202310588114.1,技术领域涉及:G16C60/00;该发明授权循环塑性分析方法、装置、电子设备及可读存储介质是由韩世伟;李睿智;谢彬;石多奇;杨晓光设计研发完成,并于2023-05-23向国家知识产权局提交的专利申请。
本循环塑性分析方法、装置、电子设备及可读存储介质在说明书摘要公布了:本发明提供了一种循环塑性分析方法、装置、电子设备及可读存储介质,涉及金属结构技术领域,包括:读取前一循环塑性过程的前一内部状态变量;通过位错阱模型基于前一内部状态变量预测第一隧穿剪切应变以及确定前一运动硬化模量;确定当前循环塑性过程的第二隧穿剪切应变;如果确定隧穿状态收敛,则基于前一运动硬化模量确定应力应变关系;将当前内部状态变量和应力应变关系作为当前循环塑性过程的循环塑性分析结果,并继续确定下一循环塑性过程的循环塑性分析结果。本发明设计了独特的位错阱模型以针对循环塑性过程中的运动硬化进行分析,能够基于微观参数表征循环塑性过程中的运动硬化行为,提高了循环塑性分析方法的适用性。
本发明授权循环塑性分析方法、装置、电子设备及可读存储介质在权利要求书中公布了:1.一种循环塑性分析方法,其特征在于,包括: 在当前循环塑性过程中,读取前一循环塑性过程的前一内部状态变量;其中,所述前一内部状态变量至少包括前一总剪切应变和前一塞积剪切应变; 通过预先配置的位错阱模型,基于所述前一总剪切应变和所述前一塞积剪切应变,预测所述当前循环塑性过程的第一隧穿剪切应变;以及,通过所述位错阱模型,基于所述前一塞积剪切应变确定所述前一循环塑性过程的前一运动硬化模量; 确定所述当前循环塑性过程的当前内部状态变量,并基于所述当前内部状态变量确定所述当前循环塑性过程的第二隧穿剪切应变; 如果基于所述第一隧穿剪切应变和所述第二隧穿剪切应变确定所述当前循环塑性过程的隧穿状态收敛,则基于所述前一运动硬化模量确定所述当前循环塑性过程的应力应变关系; 将所述当前内部状态变量和所述应力应变关系作为所述当前循环塑性过程的循环塑性分析结果,并继续基于所述当前循环塑性过程的所述当前内部状态变量确定下一循环塑性过程的循环塑性分析结果,直至满足预设迭代停止条件; 通过预先配置的位错阱模型,基于所述前一总剪切应变和所述前一塞积剪切应变,预测所述当前循环塑性过程的第一隧穿剪切应变,包括: 确定所述前一总剪切应变对应的总剪切应变率; 以及基于材料点在滑移方向上距离最近的晶界的距离和预设临界距离确定绝对塞积应变容限,包括:将材料点在滑移方向上距离最近的晶界的距离与预设临界距离的和值的倒数,与预设常数之间的乘积,确定为绝对塞积应变容限; 通过所述位错阱模型,基于所述总剪切应变率、所述绝对塞积应变容限和所述前一塞积剪切应变,预测所述当前循环塑性过程的隧穿剪切应变率,并根据所述隧穿剪切应变率确定所述当前循环塑性过程的第一隧穿剪切应变,包括:按照如下公式预测所述当前循环塑性过程的隧穿剪切应变率: ; ; 其中,为隧穿剪切应变率,代表材料点在滑移方向上距离最近的晶界的距离,为在正负阱侧取决于的绝对塞积应变容限,正隧穿指数与代表了相应阱侧的塞积与隧穿剪切应变演化趋势,为前一塞积剪切应变,为总剪切应变率,为单位阶跃函数; 确定所述当前循环塑性过程的当前内部状态变量,包括: 确定所述当前循环塑性过程的总剪切应变增量,并将所述总剪切应变增量与所述前一总剪切应变的和值,作为所述当前循环塑性过程的当前总剪切应变; 以及,获取所述当前循环塑性过程的塞积位错密度,将所述塞积位错密度、位错运动的博格斯矢量长度、位错运动的平均自由程的长度的乘积,作为所述当前循环塑性过程的当前塞积剪切应变; 将所述当前总剪切应变和所述当前塞积剪切应变,作为所述当前循环塑性过程的当前内部状态变量。
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