京东方科技集团股份有限公司;北京中祥英科技有限公司王耀平获国家专利权
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龙图腾网获悉京东方科技集团股份有限公司;北京中祥英科技有限公司申请的专利缺陷检测方法及装置、模型训练方法及装置及电子设备获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115210752B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-16发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202180000097.4,技术领域涉及:G06T7/00;该发明授权缺陷检测方法及装置、模型训练方法及装置及电子设备是由王耀平;李昭月;杨浩东;张美娟;柴栋;王洪设计研发完成,并于2021-01-28向国家知识产权局提交的专利申请。
本缺陷检测方法及装置、模型训练方法及装置及电子设备在说明书摘要公布了:本公开涉及缺陷检测技术领域,具体涉及一种缺陷检测方法及装置、模型训练方法及装置及电子设备,方法包括:获取包含缺陷产品数据的样本数据集,并识别样本数据集的特征信息,特征信息包括样本数据集的样本数量;获取初始模型,其中,初始模型为神经网络模型;基于特征信息配置训练参数;利用样本数据集,并根据训练参数对初始模型进行训练得到目标模型;将样本数据集对应的产品的真实数据输入到目标模型中得到产品的缺陷信息;其中,训练参数包括以下至少一种:学习率下降策略、训练总轮数和测试策略,其中学习率下降策略包括学习率下降次数和下降时的轮数;测试策略包括测试次数和测试时的轮数。本方案节约了人力资源。
本发明授权缺陷检测方法及装置、模型训练方法及装置及电子设备在权利要求书中公布了:1.一种缺陷检测方法,其中,包括: 获取包含缺陷产品数据的样本数据集,并识别所述样本数据集的特征信息,所述缺陷产品数据包括缺陷产品的图片,所述特征信息包括所述样本数据集的样本数量,以及所述样本数据集中所述缺陷产品的图片的尺寸和种类; 获取初始模型,其中,所述初始模型为神经网络模型; 基于所述特征信息配置训练参数; 利用所述样本数据集,并根据所述训练参数对所述初始模型进行训练得到目标模型; 将所述样本数据集对应的产品的真实数据输入到所述目标模型中得到所述产品的缺陷信息; 其中,所述训练参数包括以下至少一种:学习率下降策略、训练总轮数和测试策略,其中学习率下降策略包括学习率下降次数和下降时的轮数;测试策略包括测试次数和测试时的轮数; 所述基于所述特征信息配置训练参数还包括:根据缺陷产品的图片的尺寸和种类,调整所述初始模型的输入图像的尺寸; 所述根据缺陷产品的图片的尺寸和种类,调整所述初始模型的输入图像的尺寸,包括: 若所述缺陷产品的图片的种类为AOI彩图或DM图像,则输入图像的尺寸为缺陷产品的图片的尺寸的第一预设倍数; 若所述缺陷产品的图片的种类为TDI图像,则输入图像的尺寸为缺陷产品的图片的尺寸的第二预设倍数;其中,所述第一预设倍数小于等于1,所述第二预设倍数大于等于1。
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