瑞昱半导体股份有限公司谢泽毅获国家专利权
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龙图腾网获悉瑞昱半导体股份有限公司申请的专利用来进行存储器校准的方法、系统级芯片集成电路以及非暂态计算机可读取媒体获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114783497B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-16发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202110619272.X，技术领域涉及：G11C29/02；该发明授权用来进行存储器校准的方法、系统级芯片集成电路以及非暂态计算机可读取媒体是由谢泽毅;吴亭莹;吴舒旻设计研发完成，并于2021-06-03向国家知识产权局提交的专利申请。
本用来进行存储器校准的方法、系统级芯片集成电路以及非暂态计算机可读取媒体在说明书摘要公布了：本发明涉及一种用来进行存储器校准的方法及系统级芯片集成电路。其中，该方法可包括：在一上电及初始化阶段中，控制该系统级芯片集成电路中的一物理层电路通过一焊垫组施加电源至一存储器，且对该存储器进行初始化；在一阻抗校准相关的阶段中，触发该存储器进行关于一组数据引脚的阻抗校准；在至少一后续阶段中，在进行针对读取的校准以及针对写入的校准中的任一校准的期间，进行对应于一预定遮罩上的一组测试点的数据存取测试，其中该预定遮罩相对于一数据眼是可移动的；以及依据该数据存取测试是否成功，选择性地结束该任一校准。
本发明授权用来进行存储器校准的方法、系统级芯片集成电路以及非暂态计算机可读取媒体在权利要求书中公布了：1.一种用来进行存储器校准的方法，可应用于一系统级芯片集成电路，所述方法包括： 在所述系统级芯片集成电路的一上电及初始化阶段中，控制所述系统级芯片集成电路中的一物理层电路通过一焊垫组施加电源至一存储器，且对所述存储器进行初始化； 在所述系统级芯片集成电路的一阻抗校准相关的阶段中，触发所述存储器进行关于一组数据引脚的阻抗校准； 在所述系统级芯片集成电路的至少一后续阶段中，在进行针对读取的校准以及针对写入的校准中的任一校准的期间，进行对应于一预定遮罩上的一组测试点的数据存取测试，其中所述预定遮罩相对于一数据眼是可移动的；以及 依据所述数据存取测试是否成功以选择性地结束所述任一校准； 其中，所述预定遮罩相对于所述数据眼的可能位置对应于所述预定遮罩中心点的多个候选位置，所述任一校准被进行至少一回合，其中所述一个或多个回合对应于所述多个候选位置中的至少一候选位置。
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