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龙图腾网获悉长鑫存储产品(合肥)有限公司申请的专利一种芯片托盘检测系统及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120887081B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511367649.1，技术领域涉及：B65B57/00；该发明授权一种芯片托盘检测系统及方法是由张安琪;徐飞设计研发完成，并于2025-09-24向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种芯片托盘检测系统及方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种芯片托盘检测系统及方法，涉及半导体检测领域，芯片托盘检测系统包括：基座，基座包括码放区域以及围绕码放区域的检测区域，码放区域用以码放芯片托盘；至少一个检测模块，设置于检测区域，检测模块包括沿芯片托盘的码放方向间隔设置的多个第一检测端子，每个第一检测端子均具有触发状态和非触发状态，码放的芯片托盘能够触发对应位置的第一检测端子由非触发状态切换为触发状态；检测部，与第一检测端子信号连接，检测部用于根据第一检测端子的状态确定码放的芯片托盘的数量。本发明在芯片托盘码放的同时实现对芯片托盘数量的检测，能够提高对芯片托盘数量的检测效率以及芯片托盘的打包效率。

本发明授权一种芯片托盘检测系统及方法在权利要求书中公布了：1.一种芯片托盘检测系统，其特征在于，所述芯片托盘检测系统包括： 基座，所述基座包括码放区域以及围绕所述码放区域的检测区域，所述码放区域用以码放所述芯片托盘； 至少一个检测模块，设置于所述检测区域，所述检测模块包括沿所述芯片托盘的码放方向间隔设置的多个第一检测端子，每个所述第一检测端子均具有触发状态和非触发状态，码放的所述芯片托盘能够触发对应位置的所述第一检测端子由所述非触发状态切换为所述触发状态； 检测部，与所述第一检测端子信号连接，所述检测部用于根据所述第一检测端子的状态确定码放的所述芯片托盘的数量； 所述检测部包括信号处理装置和与所述信号处理装置信号连接的多个电容检测装置，所述电容检测装置与所述第一检测端子一一对应； 所述基座上设置有检测电极，所述芯片托盘设置有上下间隔设置的上电极、下电极以及与所述上电极和所述下电极均连接的第二检测端子，码放的所述芯片托盘的所述第二检测端子与对应的所述第一检测端子信号连接，放置于所述基座上的所述芯片托盘的下电极与所述基座上的检测电极构成第一电容，相邻码放的两个所述芯片托盘中，位于下方的所述芯片托盘的上电极与位于上方的所述芯片托盘的下电极构成第二电容； 与最下方的所述第一检测端子对应的所述电容检测装置用于检测所述第一电容，所述第一电容表征该第一检测端子的状态； 除最下方的所述第一检测端子之外的其他第一检测端子对应的所述电容检测装置用于检测对应的所述第二电容，所述第二电容表征该第一检测端子的状态； 所述信号处理装置被配置为，根据所述电容检测装置的检测结果确定码放的所述芯片托盘的数量以及码放的所述芯片托盘位置是否异常。

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