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龙图腾网获悉季华实验室申请的专利PIN针垂直度缺陷检测方法、装置、设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120101645B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510592665.4，技术领域涉及：G01B11/00；该发明授权PIN针垂直度缺陷检测方法、装置、设备及存储介质是由彭云龙;陈振翔;冯家铭;宋梦洒;易京亚;王沛;金哲镐设计研发完成，并于2025-05-09向国家知识产权局提交的专利申请。

本PIN针垂直度缺陷检测方法、装置、设备及存储介质在说明书摘要公布了：本发明涉及检测领域，公开了PIN针垂直度缺陷检测方法、装置、设备及存储介质，该方法用于检测PIN针垂直度缺陷，该方法包括：确定用于使变焦系统进行多焦面扫描的基准变焦高度；基于基准变焦高度，确定多个变焦高度，并获取与每个变焦高度对应的焦平面图像；针对每个焦平面图像，获取待检测PIN针的中心坐标，并确定待检测PIN针的ROI区域；计算每个焦平面图像对应的ROI区域的清晰度度量值，若其大于预设清晰度阈值，则判定对应的ROI区域存在清晰区域，并记录清晰区域的中心坐标；计算待检测PIN针的中心坐标与清晰区域的中心坐标之间的偏移量，当偏移量大于预设偏移阈值，则判定待检测PIN针存在垂直度缺陷。

本发明授权PIN针垂直度缺陷检测方法、装置、设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种PIN针垂直度缺陷检测方法，其特征在于，所述PIN针垂直度缺陷检测方法包括： 确定用于使变焦系统进行多焦面扫描的基准变焦高度； 基于基准变焦高度，按照预设的变焦步长确定对待检测PIN针进行扫描的多个变焦高度，并获取与每个变焦高度对应的焦平面图像； 针对每个焦平面图像，获取待检测PIN针的中心坐标，并根据待检测PIN针的中心坐标确定待检测PIN针的ROI区域； 计算每个焦平面图像中待检测PIN针的ROI区域的清晰度度量值，若计算得到的清晰度度量值大于预设清晰度阈值，则判定对应的ROI区域存在清晰区域，并记录清晰区域的中心坐标； 计算待检测PIN针的中心坐标与清晰区域的中心坐标之间的偏移量，并将计算得到的偏移量与预设偏移阈值进行比较，若计算得到的偏移量大于预设偏移阈值，则判定待检测PIN针存在垂直度缺陷； 当待检测PIN针为一个时，所述基准变焦高度为变焦系统对待检测PIN针的上表面清晰成像时所处的高度，当待检测PIN针为至少两个时，所述基准变焦高度为变焦系统对最高的待检测PIN针的上表面清晰成像时所处的高度。

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