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龙图腾网获悉宏茂微电子(上海)有限公司申请的专利一种引线键合中金属间化合物可靠性的加速测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119916174B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411898807.1，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种引线键合中金属间化合物可靠性的加速测试方法是由张健健;陶少杰设计研发完成，并于2024-12-23向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种引线键合中金属间化合物可靠性的加速测试方法在说明书摘要公布了：本发明涉及芯片封装技术领域，具体地说是一种引线键合中金属间化合物可靠性的加速测试方法。包括如下步骤：S1，进行高温试验；S2，测量每个样品管脚的电阻值；S3，设定失效条件；S4，计算每个样品失效时的累积失效率；S5，将试验数据整理成表；S6，绘制在对数正态分布坐标系中并获取各加速温度的拟合线性方程；S7，线性拟合；S8，求出各加速温度下累积失效率为50%时的时间；S9，绘出二者之间的相互关系；S10，对各数据点再次进行线性拟合得出直线斜率；S11，代入Arrhenius方程求得加速试验温度下的加速系数，从而得出加速试验温度下的试验时间。同现有技术相比，加速引线键合中金属间化合物可靠性的测试时间，节省时间和成本。

本发明授权一种引线键合中金属间化合物可靠性的加速测试方法在权利要求书中公布了：1.一种引线键合中金属间化合物可靠性的加速测试方法，其特征在于：包括如下步骤： S1，选取多个样品和多个加速高温的温度，分别进行高温试验； S2，分别测量不同高温环境下，每个样品管脚的电阻值； S3，设定失效条件，将达到该失效条件的时间称为失效时间； S4，计算每个样品失效时的累积失效率； S5，将试验数据整理成表，试验数据包括温度、产品失效时间、累积失效率； S6，得到各样品的失效时间对产品的累积失效率的分布，将试验数据表中的数据绘制在对数正态分布坐标系中并获取各加速温度的拟合线性方程，拟合线性方程为y=ax+b，其中，y为累积失效率，x为失效时间的对数值，a为斜率，b为截距； S7，对各加速温度的数据点进行线性拟合，确认各直线的斜率是否相似，若相似，则进行步骤S8，若不相似，则降低最高温度的选取值并调整各温度的间隔值重新进行步骤S1至步骤S7； S8，根据线性方程求出各加速温度下累积失效率为50%时的时间，即中位寿命t0.5； S9，将中位寿命的对数值，即Lnt0.5、温度值的倒数在Arrhenius方程线性坐标系中绘出二者之间的相互关系； S10，对各数据点再次进行线性拟合得出直线斜率，即为金属间化合物失效机理的激活能值，拟合的线性方程为m=cn+d，其中，m为Lnt0.5，n为1T*10000，c为斜率，即失效机理的激活能值，d为截距； S11，将激活能值、加速试验温度、普通试验温度代入Arrhenius方程求得加速试验温度下的加速系数，从而得出加速试验温度下的试验时间； 步骤S11中，根据Arrhenius方程求得加速试验温度下加速系数的方法如下：AF=L1L2=exp[Eak1T1-1T2]，其中AF为加速系数，L1为常规条件下的寿命，L2为加速条件下的寿命，Ea为失效机理的激活能值，k为波兹曼常数8.62X10-5，T1为常规的试验温度，T2为加速的试验温度； 根据加速系数求得加速试验温度下试验时间的方法如下：t1=t2AF，其中，t1为加速试验温度下的试验时间，t2为常规试验温度下的试验时间，AF为加速系数。

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